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淺談?lì)l譜儀對(duì)EMI測(cè)試速度的影響
本文以輻射發(fā)射測(cè)試為例，在分析了測(cè)試流程的基礎(chǔ)上，詳細(xì)討論了頻譜儀對(duì)EMI測(cè)試速度的影響。選擇合適的頻譜儀，不僅可以提高測(cè)試精度，增強(qiáng)對(duì)測(cè)試結(jié)果的信心，而且可以改善EMI測(cè)試吞吐率。
2013-03-16
頻譜儀 EMI
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工業(yè)自動(dòng)化儀表的電磁兼容試驗(yàn)
新型的全數(shù)字化現(xiàn)場(chǎng)總線儀表，同時(shí)具有信息的采集、存儲(chǔ)、處理和傳輸功能。儀表的功能也不再局限于檢測(cè)與執(zhí)行，許多控制系統(tǒng)的功能已下移至現(xiàn)場(chǎng)儀表，對(duì)儀表的EMC性能和可靠性提出了更高的要求。
2013-03-16
工業(yè)自動(dòng)化儀表 電磁兼容
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如何改善EMI測(cè)試吞吐率
越來越多的EMC測(cè)試實(shí)驗(yàn)室正努力提高EMI測(cè)試速度，加快收回成本的速度，贏取更多的EMC測(cè)試市場(chǎng)。本文像讀者介紹了EMI測(cè)試吞吐率以及如何改善EMI測(cè)試吞吐率。
2013-03-16
EMI測(cè)試 吞吐率
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針對(duì)便攜式電子產(chǎn)品的ESD保護(hù)組件
電子產(chǎn)品由于頻繁地與人體接觸，很容易受到靜電放電(ESD)的沖擊，另一方面，這些電子產(chǎn)品中的IC大多是采用最先進(jìn)的半導(dǎo)體工藝技術(shù)，它們所使用的組件閘極氧化層很薄且接面很淺，容易受到ESD的沖擊而造成損傷。針對(duì)這些便攜式電子產(chǎn)品所使用的ESD保護(hù)組件。
2013-03-15
便攜式電子產(chǎn)品 ESD保護(hù)組件 ESD沖擊
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如何預(yù)防電磁干擾及降低有源音箱的噪音
有源音箱的噪音是怎樣造成的呢？其主要來源于三種：電磁干擾，電線干擾及機(jī)械雜音及熱噪聲，本文將介紹如何預(yù)防電磁干擾及降低這些噪音的方法。
2013-03-15
電磁干擾 有源音箱
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大功率模塊驅(qū)動(dòng)電源的電磁兼容設(shè)計(jì)
作為大功率模塊的驅(qū)動(dòng)電源來說，其中的開關(guān)電路、放大電路和逆變電路等主電路可能對(duì)電磁環(huán)境存在干擾。因此在設(shè)計(jì)驅(qū)動(dòng)模塊時(shí)，必須考慮電磁兼容性問題，避免驅(qū)動(dòng)單元對(duì)外界的干擾。
2013-03-15
大功率模塊 驅(qū)動(dòng)電源 電磁兼容
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手機(jī)電磁兼容測(cè)試之輻射騷擾及傳導(dǎo)騷擾
本文針對(duì)手機(jī)的輻射騷擾及傳導(dǎo)騷擾中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的問題進(jìn)行了分析，并提出了相應(yīng)的改善手機(jī)電磁兼容性能的建議。
2013-03-15
手機(jī) 電磁兼容 輻射騷擾 傳導(dǎo)騷擾
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手機(jī)電磁兼容測(cè)試之電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)
本文針對(duì)手機(jī)電磁兼容測(cè)試的電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的問題進(jìn)行了分析，并提出了相應(yīng)的改善手機(jī)電磁兼容性能的建議。
2013-03-15
手機(jī) 電磁兼容 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)
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手機(jī)電磁兼容測(cè)試之靜電放電抗擾度試驗(yàn)
本文針對(duì)手機(jī)電磁兼容測(cè)試的靜電放電抗擾度試驗(yàn)中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的問題進(jìn)行了分析，并提出了相應(yīng)的改善手機(jī)電磁兼容性能的建議。
2013-03-15
手機(jī) 電磁兼容 靜電放電抗擾度試驗(yàn)
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