極近場EMI掃描技術(shù)

快速磁性極近場測量儀器可以捕獲和顯示頻譜和實時空間掃描結(jié)果的可視圖像。芯片廠商和PCB設(shè)計工程師可以掃描任何一塊電路板，并識別出50kHz至4GHz頻率范圍內(nèi)的恒定或時基的輻射源。這種掃描技術(shù)有助于快速解決廣泛的電磁設(shè)計問題，包括濾波、屏蔽、共模、電流分布、抗干擾性和寬帶噪聲。

在任何新PCB的開發(fā)過程中，設(shè)計工程師都必須找出設(shè)計之外的輻射體或射頻泄漏，并對其進行描述和處理以通過一致性測試?？赡艿妮椛潴w包括高速、大功率器件以及具有高密度或高復雜度的器件。掃描系統(tǒng)以疊加在Gerber文件上的形式顯示空間輻射特性，因此測試人員可以準確地找出所有輻射問題的來源。設(shè)計工程師可以在采取了相應(yīng)的解決措施之后，對器件進行重新測試并立即量化出校正設(shè)計后的效果。

掃描系統(tǒng)由一個掃描儀、小型適配器、一個客戶提供的頻譜分析儀和運行掃描系統(tǒng)軟件的PC組成。臺式掃描儀包括2，436條回路，可產(chǎn)生1，218個間隔為7.5mm的磁場探針，形成一個電子開關(guān)陣列并提供高達3.75mm的分辨率。系統(tǒng)工作頻率范圍為50kHz至4GHz，通過可選的軟件密鑰啟用。

這樣，用戶就可以自行對設(shè)計進行測試，而不必依賴另外一個部門、測試工程師或進行耗時的場外測試。工程師甚至可以在診斷一個間歇故障之后，對設(shè)計進行更改，很快再進行測試。測試的結(jié)果可以對設(shè)計更改的影響進行精確的驗證。

借助掃描系統(tǒng)，電路板設(shè)計工程師可以預先測試和解決電磁兼容問題，從而避免產(chǎn)生非預期的一致性測試結(jié)果。掃描儀的診斷功能可以幫助設(shè)計團隊將輻射測試時間縮短兩個數(shù)量級以上。

EMI近場輻射特性：SSCG示例

某一大型半導體廠商在解串器的并行總線上實現(xiàn)了SSCG功能。SSCG功能能夠通過將輻射峰值能量擴展到更寬的頻帶上來減少輻射。如下面的圖1所示，頻率變化發(fā)生在額定時鐘中心頻率（中心擴頻調(diào)制）附近，擴展的頻譜為正或負1.0%（fdev）。在接收器并行總線端，輸出以千赫茲（fmod）的調(diào)制速率隨時間調(diào)制時鐘頻率和數(shù)據(jù)頻譜。定制的串行解串器芯片組的目標客戶是要求所安裝電子設(shè)備具有低EMI輻射特性的汽車廠商。

圖1：擴頻時鐘功能

該公司期望用令人信服的量化證據(jù)來向汽車廠商說明SSCG功能可以有效降低EMI輻射。為了實現(xiàn)這個目標，設(shè)計團隊首先在SSCG功能為“關(guān)” 的情況下將待測器件（DUT）放其內(nèi)部掃描儀上，加電，然后在PC中捕獲輻射特性。為了進行有效的對比，在打開SSCG功能的情況下，對同一待測器件進行了掃描。

極近場掃描系統(tǒng)完成了空間和頻譜掃描后顯示并生成了以下輻射特性圖。需注意的是，掃描結(jié)果疊加在Gerber設(shè)計文件上，因此這樣對結(jié)果進行分析可以立即確定待測器件中的具體輻射體。圖2顯示了SSCG功能為“關(guān)”時待測器件的輻射特性。　

圖2：SSCG功能為“關(guān)”時測得的EMI輻射特性

圖3為SSCG功能為“開”時待測設(shè)備輻射的空間和頻譜（幅度與頻率）特性。通過對比，可以發(fā)現(xiàn)輻射已經(jīng)顯著減少。　　 

圖3：SSCG功能為“開”時的EMI輻射特性

對測試結(jié)果進行比較之后，設(shè)計團隊發(fā)現(xiàn)由于使用了SSCG功能導致電磁輻射顯著減少。汽車電子工程師最大的挑戰(zhàn)在于減少EMI輻射。客戶支持團隊每次向汽車廠商客戶展示這些結(jié)果時，他們普遍都表現(xiàn)出了極大的興趣。任何降低EMI的功能（此案例中為SSCG功能）都可以縮短上市時間、降低屏蔽和成本支出。