電子行業(yè)瞬息萬變，隨著對研發(fā)預算和上市時間(TTM)的控制日益嚴苛，用于構(gòu)建模擬電路并制作原型來驗證其功能的時間也越來越少。在散熱性能和印刷電路板(PCB)密度受限的情況下，硬件設(shè)計人員需要通過尺寸不斷縮小的復雜設(shè)計提供先進的精密數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換性能和更高的魯棒性。通過系統(tǒng)級封裝(SiP)技術(shù)實現(xiàn)的異構(gòu)集成，繼續(xù)推動電子行業(yè)朝著更高密度、更多功能、更強性能和更長的平均無故障時間的趨勢發(fā)展。本文將介紹ADI公司如何利用異質(zhì)集成改變精密轉(zhuǎn)換競爭環(huán)境，并提供對應用產(chǎn)生重大影響的解決方案。

 

系統(tǒng)設(shè)計人員面臨諸多挑戰(zhàn)，不僅需要為最終原型選擇器件并優(yōu)化設(shè)計，還要滿足驅(qū)動ADC輸入、保護ADC輸入以使其免受過壓事件影響、最大限度地降低系統(tǒng)功耗、用低功耗微控制器和/或數(shù)字隔離器實現(xiàn)更高的系統(tǒng)吞吐量等技術(shù)要求。隨著OEM更多地關(guān)注系統(tǒng)軟件和應用，以打造獨特的系統(tǒng)解決方案，他們也將更多的資源分配給軟件開發(fā)，而不是硬件開發(fā)。這樣就增加了硬件開發(fā)的壓力，需要進一步減少設(shè)計迭代。

 

開發(fā)數(shù)據(jù)采集信號鏈的系統(tǒng)設(shè)計人員通常需要高輸入阻抗才能與各種傳感器直接接口，這些傳感器可能具有變共模電壓和單極或雙極單端或差分輸入信號。我們通過圖2全面分析一下使用分立式器件實現(xiàn)的典型信號鏈，從而了解系統(tǒng)設(shè)計人員的一些主要技術(shù)難點。圖中所示為精密數(shù)據(jù)采集子系統(tǒng)的關(guān)鍵部分，其中20 V p-p儀表放大器輸出施加于全差分放大器(FDA)的同相輸入。此FDA提供必要的信號調(diào)理，包括電平轉(zhuǎn)換、信號衰減，輸出擺幅在0 V和5 V之間，輸出共模電壓為2.5 V，相位相反，從而為ADC輸入提供10 V p-p差分信號，以最大限度地擴大其動態(tài)范圍。儀表放大器采用±15 V的雙電源供電，而FDA由+5 V/–1 V供電，ADC由5 V電源供電。用反饋電阻(RF1 = RF2)與增益電阻(RG1 = RG2)的比值，將FDA增益設(shè)置為0.5。FDA的噪聲增益(NG)定義為：

 

 

其中β1和β2為反饋系數(shù)：

 

圖2. 典型數(shù)據(jù)采集信號鏈的簡化原理圖。

 

本節(jié)將探討FDA周圍的電路不平衡（即β1 ≠ β2）或反饋和增益電阻（R G1 、R G2 、R F1 、R F2 ）的不匹配對SNR、失真、線性度、增益誤差、偏移和輸入共模抑制比等關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)有何影響。FDA的差分輸出電壓取決于V OCM ，因此，當反饋系數(shù)β1和β2不相等時，輸出幅度或相位的任何不平衡都會在輸出端產(chǎn)生不良共模成分，這些共模成分以噪聲增益放大后，會導致FDA的差分輸出中存在冗余噪聲和失調(diào)。因此，增益/反饋電阻的比值必須匹配。換言之，輸入源阻抗和RG2 (RG1)的組合應匹配（即β1 = β2），以避免信號失真和各輸出信號的共模電壓失配，并防止FDA的共模噪聲增加。要抵消差分失調(diào)并避免輸出失真，可添加一個與增益電阻(RG1)串聯(lián)的外部電阻。不僅如此，增益誤差偏移還受電阻類型的影響，例如薄膜、低溫度系數(shù)電阻等，而在成本和電路板空間受限的情況下尋找匹配的電阻并不容易。

 

此外，由于額外成本和PCB上的空間有限，很多設(shè)計人員在創(chuàng)建單數(shù)雙極性電源時遇到不少麻煩。設(shè)計人員還需要仔細選擇合適的無源器件，包括RC低通濾波器（放在ADC驅(qū)動器輸出和ADC輸入之間）以及用于逐次逼近寄存器(SAR) ADC動態(tài)參考節(jié)點的去耦電容。RC濾波器有助于限制ADC輸入端噪聲，并減少來自SARADC輸入端容性DAC的反沖。應選擇C0G或NP0型電容和合理的串聯(lián)電阻值，使放大器保持穩(wěn)定并限制其輸出電流。最后，PCB布局對于保持信號完整性以及實現(xiàn)信號鏈的預期性能至關(guān)重要。

 

簡化客戶的設(shè)計進程

 

許多系統(tǒng)設(shè)計人員最終都是為相同的應用設(shè)計不同的信號鏈架構(gòu)。然而，并非所有設(shè)計都適用同一種信號鏈，因此ADI公司提供具有先進性能的完整信號鏈µModule®解決方案，專注于信號鏈、信號調(diào)理和數(shù)字化的通用部分，以此彌補標準分立器件和高度集成的客戶特定IC之間的缺口，幫助解決主要難點。ADAQ4003是SiP解決方案，較好地兼顧了降低研發(fā)成本和縮減尺寸兩方面因素，同時加快了原型制作。

 

ADAQ4003 µModule精密數(shù)據(jù)采集解決方案采用ADI的先進SiP技術(shù)，將多個通用信號處理和調(diào)理模塊以及關(guān)鍵無源器件集成到單個設(shè)備中（見圖5）。ADAQ4003包括低噪聲、FDA、穩(wěn)定的基準電壓源緩沖器和高分辨率18位、2 MSPS SAR ADC。

 

ADAQ4003通過將元件選擇、優(yōu)化和布局從設(shè)計人員轉(zhuǎn)移到器件本身，簡化了信號鏈設(shè)計，縮短了精密測量系統(tǒng)的開發(fā)周期，并解決了上一節(jié)討論的所有主要問題。FDA周圍的精密電阻陣列使用ADI專有的 i Passives®技術(shù)構(gòu)建，可解決電路不平衡問題，減少寄生效應，有助于實現(xiàn)高達0.005%的出色增益匹配，并優(yōu)化漂移性能(1 ppm/°C)。與分立式無源器件相比，iPassives技術(shù)還具有尺寸優(yōu)勢，從而最大限度地減少了與溫度相關(guān)的誤差源，并減少了系統(tǒng)級校準工作。FDA提供快速建立和寬共模輸入范圍以及精確的可配置增益選項（0.45、0.52、0.9、1或1.9）性能，允許進行增益或衰減調(diào)節(jié)，支持全差分或單端到差分。

 

ADAQ4003在ADC驅(qū)動器和ADC之間配置了一個單極點RC濾波器，旨在最大限度地減少建立時間，增加輸入信號帶寬。此外為基準電壓節(jié)點和電源提供了所有必要的去耦電容，以簡化物料清單(BOM)。ADAQ4003還內(nèi)置一個配置為單位增益的基準電壓緩沖器，用于驅(qū)動SAR ADC基準電壓節(jié)點和相應去耦電容的動態(tài)輸入阻抗，實現(xiàn)優(yōu)化性能。REF引腳上的10 µF是在位判斷過程中幫助補充內(nèi)部電容DAC電荷的關(guān)鍵要求，對于實現(xiàn)峰值轉(zhuǎn)換性能至關(guān)重要。與許多傳統(tǒng)SAR ADC信號鏈相比，通過內(nèi)置基準電壓緩沖器，由于基準電壓源驅(qū)動高阻抗節(jié)點，而不是SAR電容陣列的動態(tài)負載，因此用戶可以實現(xiàn)功耗更低的基準電壓源。而且可以靈活選擇與所需模擬輸入范圍匹配的基準電壓緩沖器輸入電壓。

 

小尺寸簡化了PCB布局并支持高通道密度

 

與傳統(tǒng)分立式信號鏈相比（如圖3所示），ADAQ4003的7 mm × 7 mmBGA封裝尺寸至少縮減了4倍，可在不犧牲性能的情況下實現(xiàn)小型儀器儀表。

 

圖3. ADAQ4003 µModule器件與分立信號鏈解決方案的尺寸對比。

 

印刷電路板布局對于保持信號完整性以及實現(xiàn)信號鏈的預期性能至關(guān)重要。ADAQ4003的模擬信號位于左側(cè)，數(shù)字信號位于右側(cè)，這種引腳排列可以簡化布局。換言之，這樣設(shè)計人員就能夠?qū)⒚舾械哪M部分和數(shù)字部分保持分離，并限制在電路板的一定區(qū)域內(nèi)，避免數(shù)字和模擬信號交叉以減輕輻射噪聲。ADAQ4003集成了用于基準電壓源(REF)和電源（VS+、VS−、VDD和VIO）引腳的所有必要的（低等效串聯(lián)電阻(ESR)和低等效串聯(lián)電感(ESL)）去耦陶瓷電容。這些電容在高頻時會提供低阻抗接地路徑，以便處理瞬態(tài)電流。

 

無需外部去耦電容，沒有這些電容，也就不會產(chǎn)生已知的性能影響或任何EMI問題。通過移除用于形成板載供電軌 的基準電壓源和LDO穩(wěn)壓器輸出端的外部去耦電容，在 (REF, VS+, VS−, VDD, 和 VIO)ADAQ4003 evaluation board. 上可以驗證這一性能影響。圖4顯示了不論使用還是移除外部去耦電容，雜散噪聲都被隱藏在低于−120 dB的本底噪聲下。ADAQ4003采用小尺寸設(shè)計，可實現(xiàn)高通道密度PCB布局，同時減輕了散熱挑戰(zhàn)。但是，各器件的布局和PCB上各種信號的路由至關(guān)重要。輸入和輸出信號采用對稱路由，同時電源電路遠離單獨電源層上的模擬信號路徑，并采用盡可能寬的走線，對于提供低阻抗路徑、減小電源線路上的毛刺噪聲影響以及避免EMI問題尤其重要。

 

圖4. 提供短路輸入ADAQ4003 FFT，在移除各個供電軌的外部去耦電容前后性能保持不變。

 

使用高阻抗PGIA驅(qū)動ADAQ4003

 

如前所述，通常需要高輸入阻抗前端才能直接與各種類型的傳感器連接。大多數(shù)儀器儀表和可編程增益儀表放大器(PGIA)具有單端輸出，無法直接驅(qū)動全差分數(shù)據(jù)采集信號鏈。但是， LTC6373  PGIA提供全差分輸出、低噪聲、低失真和高帶寬，可直接驅(qū)動ADAQ4003而不影響精密性能，因此適合許多信號鏈應用。LTC6373通過可編程增益設(shè)置（使用A2、A1和A0引腳）在輸入端和輸出端實現(xiàn)直流耦合。

 

在圖5中，LTC6373采用差分輸入至差分輸出配置和±15 V雙電源。根據(jù)需要，LTC6373也可采用單端輸入至差分輸出配置。LTC6373直接驅(qū)動ADAQ4003，其增益設(shè)置為0.454。LTC6373的V OCM 引腳接地，其輸出擺幅在−5.5 V和+5.5 V之間（相位相反）。ADAQ4003的FDA對LTC6373的輸出進行電平轉(zhuǎn)換以匹配ADAQ4003所需的輸入共模，并提供利用ADAQ4003 μModule器件內(nèi)ADC最大2倍V REF 峰值差分信號范圍所需的信號幅度。圖6和圖7顯示使用LTC6373的各種增益設(shè)置的SNR和THD性能，而圖8顯示圖5所示電路配置的±0.65 LSB/±0.25 LSB的INL/DNL性能。

 

圖5. LTC6373驅(qū)動ADAQ4003（增益 = 0.454，2 MSPS）。

 

圖6. SNR與LTC6373增益設(shè)置，LTC6373驅(qū)動ADAQ4003（增益 = 0.454，2 MSPS）。

 

圖7. THD與LTC6373增益設(shè)置，LTC6373驅(qū)動ADAQ4003（增益 = 0.454，2 MSPS）。

 

圖8. INL/DNL性能，LTC6373（增益 = 1）驅(qū)動ADAQ4003（增益 = 0.454）。

 

ADAQ4003 µModule應用案例：ATE

 

本節(jié)將重點介紹ADAQ4003如何適用于ATE的源表(SMU)和設(shè)備電源。這些模塊化儀器儀表用于測試快速增長的智能手機、5G、汽車和物聯(lián)網(wǎng)市場的各種芯片類型。這些精密儀器儀表具有拉電流/灌電流功能，每個處理程控電壓電流調(diào)節(jié)的通道都需要一個控制環(huán)路，并且它們需要高精度（特別是良好的線性度）、速度、寬動態(tài)范圍（用于測量µA/µV信號電平）、單調(diào)性和小尺寸，以容納同時增加的通道數(shù)。ADAQ4003提供出色的精密性能，可減少終端系統(tǒng)的器件數(shù)量，并允許在電路板空間受限的情況下提高通道密度，同時減輕了此類直流測量可擴展測試儀器儀表的校準工作和散熱挑戰(zhàn)。ADAQ4003的高精度與快速采樣速率相結(jié)合，可降低噪聲，并且無延遲，因此非常適合控制環(huán)路應用，可提供出色的階躍響應和快速建立時間，從而提高測試效率。ADAQ4003通過消除因自身漂移和電路板空間限制而需要在儀器儀表上分配基準電壓的緩沖區(qū)，幫助減輕了設(shè)計負擔。此外，漂移性能和元件老化決定測試儀器儀表的精度，因此ADAQ4003的確定性漂移降低了重新校準的成本，縮短了儀器儀表的停機時間。ADAQ4003滿足這些要求，使儀器儀表能夠測量較低的電壓和電流范圍，有助于針對各種負載條件優(yōu)化控制環(huán)路，從而明顯改善儀器儀表的工作特性、測試效率、吞吐量和成本。這些儀器儀表的高測試吞吐量和較短的測試時間將幫助最終用戶降低測試成本。SMU高級框圖如圖9所示，相應的信號鏈如圖5所示。

 

圖9. 源表簡化框圖。

 

高吞吐速率支持ADAQ4003的過采樣，從而實現(xiàn)較低的有效值噪聲并可在寬帶寬范圍內(nèi)檢測到小振幅信號。對ADAQ4003進行4倍過采樣可額外提供1位分辨率（這是因為ADAQ4003提供了足夠的線性度，如圖8所示），或增加6 dB的動態(tài)范圍，換言之，由于此過采樣而實現(xiàn)的動態(tài)范圍改進定義為：ΔDR = 10 × log10 (OSR)，單位dB。ADAQ4003的典型動態(tài)范圍在2 MSPS時為100 dB，對于5 V基準電壓源，其輸入對地短路。因此，ADAQ4003在1.953 kSPS輸出數(shù)據(jù)速率下進行1024倍過采樣時，它提供約130 dB的出色動態(tài)范圍，增益為0.454和0.9，可以精確地檢測出幅度極小的µV信號。圖10顯示了ADAQ4003在各種過采樣速率和1 kHz及10 kHz輸入頻率下的動態(tài)范圍和SNR。

 

圖10. ADAQ4003各種輸入頻率下的動態(tài)范圍以及SNR與過采樣速率(OSR)。

 

圖11. 使用信號鏈µModule技術(shù)降低總擁有成本。

 

結(jié)論

 

本文介紹了與設(shè)計精密數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)相關(guān)的一些重要方面和技術(shù)挑戰(zhàn)，以及ADI公司如何利用其線性和轉(zhuǎn)換器領(lǐng)域知識開發(fā)高度差異化的ADAQ4003信號鏈µModule解決方案，來解決一些棘手的工程設(shè)計問題。ADAQ4003能夠減輕工程設(shè)計工作，如器件選擇和構(gòu)建可投入量產(chǎn)的原型，使系統(tǒng)設(shè)計人員能夠更快地為最終客戶提供出色的系統(tǒng)解決方案。

 

ADAQ4003 µModule器件出色的精度性能和小尺寸對各種精密數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換應用頗具實用價值，具體應用包括自動化測試設(shè)備（SMU、DPS）、電子測試和測量（阻抗測量）、醫(yī)療健康（生命體征監(jiān)測、診斷、成像）和航空航天（航空）等，以及一些工業(yè)用途（機器自動化輸入/輸出模塊）。ADAQ4003等μModule解決方案可顯著降低系統(tǒng)設(shè)計人員的總擁有成本（如圖11所示的各項），降低PCB組裝成本，通過提高批次產(chǎn)量增強生產(chǎn)支持，支持可擴展/模塊化平臺的設(shè)計重用，還簡化了最終應用的校準工作，同時加快了上市時間。