中心議題：

• 通過示波器探頭響應(yīng)改善MIPI設(shè)計裕量

解決方案：

• 采用探頭的S參數(shù)模型
• 使用示波器內(nèi)置的快速校準邊沿階躍響應(yīng)進行校正

移動行業(yè)處理器接口(MIPI)聯(lián)盟是負責推廣移動設(shè)備軟硬件標準化的組織。它已經(jīng)發(fā)布了D-PHY規(guī)范，該規(guī)范可在芯片與設(shè)備之間的通信鏈路上實現(xiàn)高達1.5Gbps(1,500,000,000比特/秒)的數(shù)據(jù)傳輸率。MIPI聯(lián)盟還計劃在近期發(fā)布M-PHY規(guī)范，進一步提高數(shù)據(jù)傳輸率，達到大約6Gbps的水平。隨著需要更高數(shù)據(jù)吞吐量的移動應(yīng)用和特性不斷出現(xiàn)，對傳輸速率的要求也相應(yīng)提高。這些應(yīng)用和特性包括：高分辨率照相機捕獲、高清視頻顯示，以及用于下一代長期演進(LTE)射頻(RF)移動通信網(wǎng)絡(luò)的復雜調(diào)制方案。

MIPI聯(lián)盟下屬的電氣標準工作組投入了巨大的努力來制定這些物理層規(guī)范，以確保實際設(shè)計可以在移動環(huán)境中正常運行。由于移動設(shè)計的體積受到很大限制，許多元器件都擠在一個狹小密集的空間中，所以電源供電、散熱、信號串擾和耦合等問題更加突出，工程師在設(shè)計過程中必須謹慎地考慮這些問題。此外，數(shù)字和射頻電路都安裝在這個狹窄空間中，會使電磁干擾(EMI)更加嚴重。這些新的挑戰(zhàn)可能會帶來各種不可預(yù)見的問題，單憑普通數(shù)字設(shè)計的經(jīng)驗無法解決這些問題。

MIPI聯(lián)盟提倡使用一致性測試套件(CTS)對設(shè)計進行測試，包括對發(fā)射機和接收機電路，以及信號互連進行測試。其目的是增強系統(tǒng)的互操作性，或保證不同廠商的設(shè)計在一起使用時能夠良好地配合。特別是在進行發(fā)射機測試時，CTS可以使用探頭和示波器進行關(guān)鍵的測量，例如信號幅度、通道內(nèi)/通道間偏差、轉(zhuǎn)換速率、抖動性能、眼圖和時間要求。在進行測試時切勿忘記的一個重要因素是所使用的探測系統(tǒng)的精度，使用不一致的探頭可能會降低設(shè)計的真正性能。例如，不規(guī)則的頻率響應(yīng)和探頭的不匹配偏差有可能造成測量結(jié)果出現(xiàn)極大差異，導致盡管設(shè)計運行得更好，但是裕量減小。在本文中，您將了解如何通過現(xiàn)有的解決方案，只使用一臺示波器來校正和匹配每個探頭，使其具有相同且經(jīng)過校正的響應(yīng)，從而獲得更多的設(shè)計裕量。

探頭損耗和偏差對測量結(jié)果的影響

探頭和電纜都具有固有的損耗和變化。損耗有時可能極大，或與標稱值有一定的差距，導致測量結(jié)果發(fā)生變化。為了補償固有損耗，示波器廠商通過數(shù)字信號處理(DSP)技術(shù)進行探頭校正。供應(yīng)商使用“最佳”模型，并應(yīng)用到所有探頭的的補償和校正上。雖然這一策略可以解決某些損耗和變化，但也意味著如果一個探頭的特性發(fā)生了變化、漂移或偏離開始使用的模型，那么對這個探頭進行的補償就不再正確了?，F(xiàn)實中有很多探頭組合連接到探頭放大器上，為了獲得最高測量精度必須對每種探頭組合進行測量。最終的結(jié)果是，您可能會得到不必要的誤差或探頭與探頭之間的差異。您也可以使用定制的探頭。雖然這提供了很大的便利，但它也意味著，示波器廠商再也無法提供“最佳”系統(tǒng)。

對于MIPI D-PHY或M-PHY發(fā)射機測試，最常用的探測方法包括使用有源差分探頭直接焊接到產(chǎn)品信號路徑上和用SMA同軸電纜連接到焊裝有被測芯片的測試板上的信號路徑上(圖1)。由于信號是差分信號，而且必須對信號的電氣性能進行單端分析，所以需要使用一對探頭進行部分測試。這些測試包括測量共模電壓幅度失配等。重要的是，您所使用的探頭必須實現(xiàn)正確匹配，并且擁有相同的損耗性能特性，這樣所測量的信號才代表了設(shè)計的真正性能。

通常，您必須花費昂貴的代價才能找到匹配的探頭，但無論花費了多少，它們并不總是相同的，往往存在一定的容限。雖然探頭是當作匹配的探頭對進行銷售的，但是其偏差和頻率響應(yīng)的容限對于測量來說可能太大，致使測試結(jié)果合格或不合格。您也許可以通過校準消除這些電纜的偏差，但是這些電纜的頻率響應(yīng)特性并不容易校正。如果電纜的特性不完全相同，可能會導致信號的部分頻率內(nèi)容發(fā)生衰減或放大，從而使被測信號出現(xiàn)失真。當?shù)玫綔y量結(jié)果時，它可能會超過限定范圍，因為信號在頻域內(nèi)的不均衡放大可能導致測試失敗。

在圖2左側(cè)屏幕截圖中，使用了一對匹配不正確、頻率響應(yīng)特性略有不同的探頭，通過探測差分信號來測量共模電壓。您可以觀察到，兩個信號的波形特性略有不同，當信號疊加在一起時，探頭差異導致凸起。電纜頻率響應(yīng)差異造成的凸起形成了大約75mV的共模誤差，導致測試失敗。相比之下，右側(cè)的測量使用了一個高度匹配的探頭對，共模電壓的測量結(jié)果僅大約為7mV，這顯示了設(shè)計的真正性能，設(shè)計成功通過了測試。因此，偏差效應(yīng)和頻率響應(yīng)對測量精度有很大的影響。
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傳統(tǒng)校準方法

典型的示波器提供對探頭的直流和偏差校準。此類探頭校正是比較有限的，因為它不會校正探頭頻率響應(yīng)。這樣的校準對于有些測量可能是足夠精確的，但是仍然有一定的不準確度。因此，您可能希望校正所使用的探頭的偏差和頻率響應(yīng)，而不是直接使用示波器廠商提供的響應(yīng)參數(shù)。尤其是測量電壓失配和共模電壓時，探針校正效果可能會決定測試結(jié)果。

校正頻率響應(yīng)的一種常用方法是對探頭的頻率響應(yīng)和損耗特性進行去嵌入。大多數(shù)示波器能夠采用探頭的S參數(shù)模型，并應(yīng)用去嵌入功能來消除損耗。這個任務(wù)可能看起來微不足道，但實際上并非如此。首先，您必須生成探頭S參數(shù)模型。通常是使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)或時域反射計(TDR)等專業(yè)儀器來表征和測量探頭，生成S參數(shù)模型。操作這些儀器可能需要非常專業(yè)和熟練的技能，更不用說您的實驗室中是否配備了這些儀器。此外，在示波器中使用和應(yīng)用S參數(shù)模型同樣具有挑戰(zhàn)性，因為您需要知道如何使用去嵌入旋鈕或菜單以獲得最佳結(jié)果。
 
難怪許多工程師決定避免校準其電纜，而假定他們在進行測量時探頭是完全匹配的。未校準探頭不僅會使測量不夠精確，而且在進行故障診斷時可能會產(chǎn)生誤導，實際上問題是由探頭造成的。

創(chuàng)新的探頭偏差和頻率響應(yīng)校正

目前出現(xiàn)了一個創(chuàng)新的解決方案，可以輕松表征和校正電纜和探頭所產(chǎn)生的插入損耗。它只需使用示波器，而無需使用VNA或TDR等其它儀器。具體方法是，使用示波器內(nèi)置的快速校準邊沿階躍響應(yīng)進行校正，然后將校正結(jié)果輸入探頭。通過分析使用和不使用探頭對階躍響應(yīng)的影響，可以計算出S參數(shù)數(shù)學模型，將探頭造成的損耗考慮在內(nèi)(如圖3)。這種功能可對探頭進行全面的交流校準，而不只是直流校準和偏差校正。它可以很快校正相位非線性、幅度不平坦以及探頭負載效應(yīng)等問題。并可分析在設(shè)置探測環(huán)境時產(chǎn)生的阻抗和電容。為了幫助您進行校正，示波器還提供了軟件設(shè)置向?qū)С绦颍梢砸龑瓿稍O(shè)置和表征探測元器件，例如探頭、電纜和開關(guān)。

這個功能提供的對探測連接和設(shè)置的分析可增加測量裕量，使您可以進行最精確的測量。當探頭環(huán)境設(shè)置消耗了測量裕量但用戶沒有察覺時，增加的裕量變得尤為重要。通過計算基線響應(yīng)的變化，可以使用校正濾波器來測量有損電纜，以便獲得經(jīng)過校正的電纜響應(yīng)。最重要的是，您不必花費大量資金購買完全匹配的電纜，因為它們并不便宜。相反，這種能力將校正探頭頻率響應(yīng)，在您使用時完全匹配。

總結(jié)

隨著高速MIPI信號的數(shù)據(jù)傳輸速率達到并超過6Gbps，探測系統(tǒng)對測量結(jié)果的影響變得越來越重要。探頭可以影響測試結(jié)果，特別是當設(shè)計正處于測試合格或不合格的邊緣。這對項目成本和進度也有著巨大的影響。因此，能夠僅使用示波器快速方便地進行探頭校正是項目成功的關(guān)鍵。這個功能可以校正探頭之間的差異和定制探頭，以及消除電纜造成的插入損耗。實踐證明，它們不僅能夠縮短工程時間，還可使用容限更寬松的部件，從而節(jié)省大量成本。您在此解決方案上的投資最終將會帶來豐厚的回報—產(chǎn)品和設(shè)計的質(zhì)量更出色，推向市場的速度更快。