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【當代材料電學測試課堂】系列之一： 納米測試（上）
材料性質(zhì)的研究是當代材料科學的重要一環(huán)，所謂材料的性質(zhì)是指對材料功能特性和效用的定量度量和描述，即材料對電、磁、光、熱、機械載荷的反應(yīng)。源表SMU 在當代材料科學研究中，起到舉足輕重的作用，選擇適合某類材料電性能測試的SMU，如何降低測試誤差，測試中應(yīng)當注意什么，這些問題都需要重點關(guān)...
2021-03-15
材料電學測試 納米測試
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關(guān)于SiP與先進封裝的異同點
SiP系統(tǒng)級封裝（System in Package)，先進封裝HDAP（High Density Advanced Package)，兩者都是當今芯片封裝技術(shù)的熱點，受到整個半導體產(chǎn)業(yè)鏈的高度關(guān)注。那么，二者有什么異同點呢？
2021-03-15
SiP 先進封裝
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如何選取輸入電源Y電容？
隔離電源在初次級上加Y電容是為了給次級的共模電流提供一個回路到初級，減少共模電流對輸出的影響。有時候Y電容串接在大電解電容的正和或者是地之間，這都是可以的。有時候原副邊串兩個Y電容是為了提供更高的耐壓。
2021-03-15
電源 Y電容
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詳解PWM驅(qū)動MOS管H橋電路
H橋是一個典型的直流電機控制電路，因為它的電路形狀酷似字母H，故得名與“H橋”。4個三極管組成H的4條垂直腿，而電機就是H中的橫杠（注意：圖中只是簡略示意圖，而不是完整的電路圖，其中三極管的驅(qū)動電路沒有畫出來）。
2021-03-15
PWM驅(qū)動 MOS管 H橋電路
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10kHz MEMS加速度計，提供4mA至20mA輸出，適合狀態(tài)監(jiān)控應(yīng)用
狀態(tài)監(jiān)控(CbM)是一種預(yù)測性維護方式，其利用各種傳感器來評估設(shè)備隨時間的運行狀態(tài)。收集的傳感器數(shù)據(jù)用于建立基線趨勢，從而幫助診斷甚至預(yù)測故障。與傳統(tǒng)的定期預(yù)防性維護模式相比，利用CbM可以在需要時進行維護，時間和成本都能得到節(jié)省。
2021-03-15
MEMS加速度計 狀態(tài)監(jiān)控 應(yīng)用
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TL431反饋回路的分析和設(shè)計
TL431（如圖一）是最常用的三端可調(diào)電流基準源之一，熱穩(wěn)定性能好，性價比高，被廣泛應(yīng)用于運放電路，比較器電路，ADC基準源，可調(diào)壓電源，開關(guān)電源等。在隔離開關(guān)電源電路中尤為常見，TL431常被用做運放配合線性光耦來完成電壓環(huán)的補償。如圖二所示（圖中L是為了降低輸出電壓紋波加的小電感）。
2021-03-15
TL431 反饋回路 設(shè)計
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一種改善數(shù)字調(diào)光閃爍的方法
在低壓調(diào)光應(yīng)用領(lǐng)域，通常會采用Buck降壓調(diào)光驅(qū)動器，具有高效率、高集成度和低成本等優(yōu)勢。對于Buck降壓調(diào)光驅(qū)動器，存在High-side Buck和Floating Buck兩種輸出拓撲。如圖1所示，F(xiàn)loating Buck中，燈串和電源輸出并聯(lián)；High-side Buck中，燈串直接連接輸入，和濾波電感串聯(lián)。相比Floating Buck，H...
2021-03-15
數(shù)字調(diào)光閃爍 方法 Buck降壓調(diào)光驅(qū)動器
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