【導(dǎo)讀】FA/RMA工程師需要在嚴(yán)苛的客戶投訴、產(chǎn)線運(yùn)轉(zhuǎn)時間中，能夠有足夠的手段以及盡可能低的學(xué)習(xí)成本，快速驗(yàn)證諸如PCIe高速總線的故障，從而能夠更快更好的給RD提出有效的反饋，甚至能夠推動RD優(yōu)化設(shè)計(jì)，確保團(tuán)隊(duì)能夠得到持續(xù)的正向發(fā)展和評價(jià)。
在服務(wù)器、PC等電子設(shè)備主板的生產(chǎn)中，往往會出現(xiàn)產(chǎn)線的故障，需要失效分析工程師（FA）以及維修工程師（RMA）去快速定位生產(chǎn)過程當(dāng)中的故障件，特別是一些高速信號的故障。在整個過程中，往往需要面臨很多的壓力和責(zé)任，比如：
客戶投訴需要及時反饋
不良風(fēng)險(xiǎn)點(diǎn)的識別和內(nèi)部分析
不斷完善設(shè)計(jì)檢查表，推動 RD 優(yōu)化設(shè)計(jì)
指導(dǎo)生產(chǎn)制程改善
團(tuán)隊(duì)的能力需要持續(xù)提升
高速信號的特殊性
但是要應(yīng)對這些壓力，往往也對工程師提出了很高的要求。目前來看FA/RMA工程師由于工作性質(zhì)問題，要去應(yīng)對上面的挑戰(zhàn)往往也很棘手，特別是高速信號相關(guān)的故障，而且由于高速信號的特殊性，這類信號也容易出問題，其中PCIe信號是其中的典型。
主要原因：
高速信號帶寬高、速率快、信號冗余度也因此變小；
PCIe 信號是高速信號互聯(lián)的關(guān)鍵；
PCIe 互聯(lián)的接口總類多；
缺少測試手段，往往只有低端示波器以及萬用表，無法用于高速信號問題排查；
缺乏系統(tǒng)的信號完整性知識，往往依賴于產(chǎn)品研發(fā)；
因此FA/RMA工程師需要在嚴(yán)苛的客戶投訴、產(chǎn)線運(yùn)轉(zhuǎn)時間中，能夠有足夠的手段以及盡可能低的學(xué)習(xí)成本，快速驗(yàn)證諸如PCIe高速總線的故障，從而能夠更快更好的給RD提出有效的反饋，甚至能夠推動RD優(yōu)化設(shè)計(jì)，確保團(tuán)隊(duì)能夠得到持續(xù)的正向發(fā)展和評價(jià)。
圖1. 泰克新一代TMT4 PCIe性能綜合測試儀
新一代TMT4 PCIe性能綜合測試儀
針對上面提到的FA/RMA工程師所遇到的挑戰(zhàn)，泰克推出了新一代的TMT4 PCIe性能綜合測試儀。
圖 2. 豐富的硬件接口形式，應(yīng)對各種產(chǎn)品形態(tài)
這臺儀器集成了豐富、便捷的功能，直達(dá)PCIe 信號鏈路、物理層細(xì)節(jié)信息，直觀的圖示有利于工程師學(xué)習(xí)和掌握：
支持PCIe Gen3/4信號的一鍵式掃描功能，同時掃描所有鏈路的發(fā)射和接收性能。
支持多種多樣的硬件接口，如CEM、M.2、U.2、U.3等等，適配各種信號連接。
速度飛快，掃描所有16條PCIe Gen4總線鏈路只需要1-2分鐘。
一學(xué)就會，無需學(xué)習(xí)成本，通過網(wǎng)頁訪問，只需要一兩個按鍵操作就能完成測試。
提供專業(yè)報(bào)告，方便與RD一起進(jìn)行問題分析與定位。
圖3. 專業(yè)級的PCIe物理層Tx/Rx分析
通過TMT4 PCIe性能綜合測試儀，整個FA/RMA工程師團(tuán)隊(duì)可以在短短1-2分鐘內(nèi)提交全面的PCIe鏈路的發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的測試結(jié)果，從而能夠給出專家級的分析報(bào)告；因此也能夠幫助工程師更快的對客戶投訴做出反饋，以及幫助工程師快速確定問題所在，確保產(chǎn)線正常運(yùn)轉(zhuǎn)，最大程度提升工程師價(jià)值以及降低產(chǎn)線成本。
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