基于LED器件的調(diào)頻特性,通過分析發(fā)光器件和封裝的結(jié)構(gòu)及其他關(guān)鍵光電性能,提出建議:通過降低RC時間以及載流子自發(fā)輻射壽命,有效改善LED器件的響應(yīng)速率,提高LED的調(diào)制帶寬。
1 LED器件的調(diào)制帶寬及其測試
帶寬一般指信號所占據(jù)的頻帶寬度。當(dāng)描述信道時,帶寬指能夠有效通過該信道信號的最大頻帶寬度。發(fā)光二極管(LED)的調(diào)制帶寬則是器件在加載調(diào)制信號時,能承載信號最大的頻帶寬度,一般定義為LED輸出的交流光功率下降到某一低頻參考頻率值得一半時(如-3 dB)的頻率定為LED的調(diào)制帶寬。LED的調(diào)制帶寬是可見光通信系統(tǒng)信道容量和傳輸速率的決定性因素,受到器件實(shí)際的調(diào)制深度、伏安特性等因素的多方面影響。
LED器件調(diào)制帶寬的測試,通常都是對直流工作下的器件加載模擬信號(如正弦信號),測量光功率信號隨頻率變化的曲線,來確定帶寬。
圖1給出了一種器件調(diào)制特性測試系統(tǒng)。它主要包括信號發(fā)射端和接收端。在發(fā)射端,信號發(fā)生器發(fā)出的信號被功率放大器放大,以提高其調(diào)制深度;隨后,信號加載到驅(qū)動LED的直流偏置上,使得LED發(fā)出調(diào)制光信號;在接收端,光電探測器將光信號轉(zhuǎn)換為電信號,經(jīng)過濾波放大,輸出到示波器上。
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2 影響因素及改善方法
一般來說,影響LED調(diào)制特性的因素主要取決于以下兩個方面:RC時間和載流子自發(fā)輻射壽命。LED的有源區(qū)是多量子阱結(jié)構(gòu),具有電荷限制作用,在響應(yīng)過程中的上升下降時間稱為RC時間,主要受到結(jié)電容影響,對信號具有延遲作用;而器件有源區(qū)內(nèi)載流子自發(fā)輻射壽命直接影響載流子從復(fù)合到光子逃逸出器件的時間。
2.1 降低RC時間
圖3所示為LED的小信號等效電路。這個小信號等效電路,實(shí)際上和閾值電壓下的激光器的等效電路類似。因?yàn)樵陂撝惦妷合拢す馄髌骷ぷ髟谧园l(fā)輻射狀態(tài),受激發(fā)射過程還沒有開始,所以LED也使用該等效電路。
通過這種器件的尺寸設(shè)計(jì)來降低RC時間,從而改善LED調(diào)制帶寬,是較為直觀的一種方式。通過設(shè)計(jì)一組不同尺寸(結(jié)面積、p-GaN與結(jié)接觸面積不同)的LED器件,研究尺寸對LED帶寬的影響。有源區(qū)面積越大的器件,在相同電流密度下,具有較小的調(diào)制帶寬。其原因主要是因?yàn)榈刃ЫY(jié)電容更大,而且電容增大對帶寬的影響比電阻減小的效果更加顯著。這個結(jié)果和臺灣成功大學(xué)的J.-W. Shi等人的結(jié)果一致。圖4給出實(shí)驗(yàn)器件A與B在不同驅(qū)動電流下的頻率響應(yīng)曲線。A器件p-GaN與結(jié)接觸面積更大。
臺灣清華大學(xué)的Chien-Lan Liao等人利用摻鎵(Ga)的氧化鋅(ZnO)薄膜GZO,有效地降低了結(jié)電容。圖5顯示具有電流限制層的藍(lán)光LED結(jié)構(gòu)示意圖。由于將p型的GaN層刻出臺面,在p型上做電極,能減小有效電容。而且電極采用環(huán)形結(jié)構(gòu),利用橫向電阻大的GZO薄膜,實(shí)現(xiàn)對電流限制作用,使得電流主要在垂直方向傳輸,即GZO實(shí)現(xiàn)了與氧化銦錫(ITO)相反的功能,抑制了電流的擴(kuò)展。因此,實(shí)際的結(jié)電容將會變小,從而實(shí)現(xiàn)LED調(diào)制帶寬的提高。通過這種環(huán)形電極設(shè)計(jì),該器件的3 dB帶寬達(dá)到225 MHz。
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2.2 降低載流子自發(fā)輻射壽命
可見光(VLC)通信系統(tǒng)一般都工作在大電流區(qū)域范圍內(nèi),因此還需要研究不同電流下頻率響應(yīng)。圖6是不同電流下,器件頻率響應(yīng)曲線。外加驅(qū)動電流越大,電光轉(zhuǎn)換(E-O)的3 dB帶寬也會越大。從圖6可以看出,120 mA下調(diào)制頻率大約是40 mA下的2倍。主要因?yàn)榧ぷ訌?fù)合幾率正比于注入載流子密度。大電流下,注入的載流子濃度增加,因而激子復(fù)合幾率增加,輻射復(fù)合載流子壽命降低,E-O快速響應(yīng)。
伊利諾伊大學(xué)香檳分校的M. Feng等人,通過一種類似異質(zhì)結(jié)雙極發(fā)光晶體管(HBLET)的LED將調(diào)制速率提高了一個量級,達(dá)到吉赫茲量級。HBLET是一種3端口發(fā)光器件(一個電輸入端、一個電輸出端、一個光輸出端),器件中量子阱有源區(qū)合并到基區(qū),提高了電學(xué)和光學(xué)的性質(zhì),而高速LED結(jié)構(gòu)和HBLET相似。在60 mA驅(qū)動電流下,器件的E-O調(diào)制頻率高達(dá)7 GHz,但是功率很小,大約僅為13.8 μW。圖7為器件(n-p-n結(jié)構(gòu))的結(jié)構(gòu)示意圖,可以看到發(fā)射極接負(fù)電壓,基極和集電極(這個也叫漏極Drain)接正極,這樣發(fā)射結(jié)正偏,集電結(jié)反偏。因?yàn)榛鶚O和漏極同一電位,基極-漏極邊界沒有電荷分布積累,交流驅(qū)動下,在基區(qū)建立動態(tài)的發(fā)射極與漏極的電荷分布。因此,基區(qū)的過剩載流子自發(fā)輻射復(fù)合的壽命就大于從發(fā)射極到漏極的傳輸時間,使得載流子還沒有來得及復(fù)合,就被內(nèi)建反向電場掃到漏極,僅保留快速的載流子復(fù)合發(fā)光,從而提高了調(diào)制速度。
加州理工學(xué)院的Koichi Okamoto等人首次在LED上利用表面等離激元,得到出光增加的效果。文獻(xiàn)[18]給載流子復(fù)合發(fā)射光子提供了一條新的技術(shù)途徑。如圖9所示,載流子復(fù)合的能量轉(zhuǎn)換有多個途徑,包括輻射復(fù)合、非輻射復(fù)合以及量子阱-表面等離激元(QW-SP)耦合。非輻射復(fù)合不能產(chǎn)生光子,能量最終以熱的形式耗散掉了;輻射復(fù)合能夠產(chǎn)生光子,產(chǎn)生的光子有一部分能夠溢出器件,逃逸出的光子數(shù)能通過外量子效率反映。圖9中黑色箭頭表示QW-SP耦合的可能形式。載流子復(fù)合后能量沒有直接轉(zhuǎn)換為光子,而是耦合到距離比較近(30 nm左右)的表面等離激元中(SP),然后再以輻射的形式將能量放出到LED外面。這個過程的速度遠(yuǎn)比輻射復(fù)合能量轉(zhuǎn)換速度快。490 nm波長下,差異明顯減小,這個是由于QW-SP耦合波長在藍(lán)光,因此長波長的位置,能量耦合減弱,差異減小。