你的位置:首頁 > 測試測量 > 正文

滿足大功率系統(tǒng)不斷增長的故障檢測需求

發(fā)布時(shí)間:2022-04-24 來源:TI 責(zé)任編輯:wenwei

【導(dǎo)讀】對于大功率工業(yè)系統(tǒng)(如電機(jī)驅(qū)動器和光伏逆變器)以及汽車系統(tǒng)(包括電動汽車 (EV) 充電器、牽引逆變器、車載充電器和DC/DC轉(zhuǎn)換器)而言,故障檢測機(jī)制必不可少。


故障檢測通過電流、電壓和溫度測量來診斷系統(tǒng)內(nèi)的任何交流電源線波動、機(jī)械或電氣過載。在檢測到故障事件后,主機(jī)微控制器 (MCU) 會執(zhí)行保護(hù)動作,例如關(guān)閉或修改功率晶體管的開關(guān)特性或使斷路器跳閘。


為了提高效率并減小系統(tǒng)尺寸,設(shè)計(jì)人員正從絕緣柵雙極晶體管 (IGBT) 改用寬帶隙碳化硅 (SiC) 和氮化鎵 (GaN) 開關(guān)晶體管,從而實(shí)現(xiàn)更快的開關(guān)速度 (>100kHz) 和更短的耐受時(shí)間 (<5μs)。


要保護(hù)功率開關(guān)晶體管免受故障條件的影響,首先要使用基于分流器或基于霍爾效應(yīng)的解決方案來檢測過流情況。雖然基于霍爾效應(yīng)的解決方案支持單模塊方法,但它們的測量精度很低,尤其在溫度升高的情況下。在基于分流器或基于霍爾效應(yīng)的解決方案之間進(jìn)行選擇時(shí),要考慮隔離規(guī)格和初級導(dǎo)體電阻等其他因素。雖然兩種解決方案中的初級導(dǎo)體電阻可能會產(chǎn)生相同的散熱量,但是,隨著分流器技術(shù)的改進(jìn),分流器現(xiàn)在的電阻要小得多,從而能夠更大限度地減少散熱,并在整個(gè)溫度和壽命范圍內(nèi)提供非常高的精度。


我們來看看幾種基于分流器的故障檢測方法:


使用隔離式放大器


圖1顯示了基于分流器的過流檢測解決方案,它有一個(gè)隔離式放大器和一個(gè)非隔離式比較器。如有必要,您可以使用同樣的隔離式放大器進(jìn)行反饋控制。MCU接收比較器的輸出并發(fā)送信號,從而控制柵極驅(qū)動器的使能引腳或改變進(jìn)入柵極驅(qū)動器輸入的脈寬調(diào)制周期。


14.png

圖 1:使用隔離式放大器和非隔離式比較器進(jìn)行故障檢測


使用隔離式放大器、基于分流器的方法為故障檢測和反饋控制提供了高測量精度,其中的隔離式放大器可提供基本隔離或增強(qiáng)隔離。


然而,隔離式放大器的傳播延遲為 2μs - 3μs。根據(jù)過流檢測的延遲要求,基于隔離式放大器的方法可能不夠快。


使用隔離式調(diào)制器


如圖2所示,可以使用隔離式調(diào)制器同時(shí)進(jìn)行過流檢測和反饋控制。隔離式調(diào)制器的隔離式數(shù)據(jù)輸出 (DOUT) 以顯著更高的頻率提供由1和0組成的數(shù)字比特流。該比特流輸出的時(shí)間平均值與模擬輸入電壓成正比,MCU內(nèi)的數(shù)字濾波器重建測量信號。MCU可以使用相同的比特流輸出并行運(yùn)行多個(gè)數(shù)字濾波器,其中一個(gè)數(shù)字濾波器配置用于高精度反饋控制,另一個(gè)數(shù)字濾波器配置用于低延遲過流檢測。


15.png

圖 2:使用隔離式調(diào)制器進(jìn)行故障檢測


與隔離式放大器相比,采用隔離式調(diào)制器的基于分流器的方法為故障檢測和反饋控制提供了更高測量精度。在最壞情況下,過流檢測的傳播延遲可低至1μs。


使用標(biāo)準(zhǔn)比較器和數(shù)字隔離器


圖3顯示了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)非隔離式比較器,后跟用于過流檢測的數(shù)字隔離器,以及用于反饋控制的隔離式放大器或調(diào)制器。在最壞情況下,過流檢測的傳播延遲可低于1μs,具體取決于所選的比較器和數(shù)字隔離器。但是,分立式實(shí)施會占用更多印刷電路板 (PCB) 空間,并且對于需要更高精度的設(shè)計(jì)來說可能會變得昂貴。


16.png

圖3:使用標(biāo)準(zhǔn)比較器和數(shù)字隔離器進(jìn)行故障檢測


使用隔離式比較器


圖4所示的隔離式比較器通過集成標(biāo)準(zhǔn)比較器和數(shù)字隔離器的功能,提供了一種小巧且超快的過流檢測方法。您可以使用隔離式放大器或隔離式調(diào)制器進(jìn)行反饋控制。


17.png

圖 4:使用隔離式比較器進(jìn)行故障檢測


AMC23C12等隔離式比較器為故障檢測提供了一種經(jīng)濟(jì)高效的小尺寸解決方案。這些器件具有極低的延遲 (<400ns),可實(shí)現(xiàn)更快的過流檢測。AMC23C12集成了一個(gè)用于為高端供電的寬輸入范圍(3V - 27V)低壓降穩(wěn)壓器、一個(gè)單窗口比較器和一個(gè)電隔離層,與分立式實(shí)施相比,PCB面積減少高達(dá)50%,物料清單數(shù)量也更少。AMC23C12系列具有可調(diào)跳變閾值和低于3%的精度(在最壞情況下),可滿足日益增長的過流、過壓、過熱、欠壓和欠流檢測需求。


表 1 比較了各種基于分流器的故障檢測方法。


18.png

表 1:比較基于分流器的過流檢測方法


隨著提高系統(tǒng)彈性和采用更快的開關(guān)晶體管(如SiC和GaN)的需求激增,對準(zhǔn)確和快速故障檢測的需求變得更加重要。AMC23C12系列隔離式比較器可快速檢測各種故障事件,幫助設(shè)計(jì)人員開發(fā)具有更高容錯(cuò)能力的高壓系統(tǒng)。


其他資源


?      請查看 TI 的隔離式放大器和調(diào)制器。

?      請閱讀模擬設(shè)計(jì)期刊文章“在電機(jī)驅(qū)動器中使用隔離式比較器進(jìn)行過流和過壓故障檢測”。


關(guān)于德州儀器 (TI)


德州儀器(TI)(納斯達(dá)克股票代碼:TXN)是一家全球性的半導(dǎo)體公司,致力于設(shè)計(jì)、制造、測試和銷售模擬和嵌入式處理芯片,用于工業(yè)、汽車、個(gè)人電子產(chǎn)品、通信設(shè)備和企業(yè)系統(tǒng)等市場。我們致力于通過半導(dǎo)體技術(shù)讓電子產(chǎn)品更經(jīng)濟(jì)實(shí)用,創(chuàng)造一個(gè)更美好的世界。如今,每一代創(chuàng)新都建立在上一代創(chuàng)新的基礎(chǔ)之上,使我們的技術(shù)變得更小巧、更快速、更可靠、更實(shí)惠,從而實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體在電子產(chǎn)品領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,這就是工程的進(jìn)步。這正是我們數(shù)十年來乃至現(xiàn)在一直在做的事。 欲了解更多信息,請?jiān)L問公司網(wǎng)站http://www.ti.com.cn/。



免責(zé)聲明:本文為轉(zhuǎn)載文章,轉(zhuǎn)載此文目的在于傳遞更多信息,版權(quán)歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權(quán)問題,請聯(lián)系小編進(jìn)行處理。


推薦閱讀:


超小尺寸 IEEE802.3af PD 解決方案!

二極管子的理想與現(xiàn)實(shí)

電池充電器IC基本原理

線圈的品質(zhì)因子Q

不了解三相電機(jī)的磁場定向控制?這篇文章一定要讀

特別推薦
技術(shù)文章更多>>
技術(shù)白皮書下載更多>>
熱門搜索
?

關(guān)閉

?

關(guān)閉