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詳解密碼芯片設(shè)計(jì)中的反熔絲FPGA
反熔絲FPGA對于大多數(shù)設(shè)計(jì)可提供實(shí)現(xiàn)較好的性能，這是由于其可編程鏈路的電阻較小(反熔絲接點(diǎn)電阻50Ω左右)，具有較好的 布線靈活性，不會妨礙信號傳送，并以最直接的通路進(jìn)行，因而可大大提高芯片速度。
2014-10-09
芯片設(shè)計(jì) 反熔絲FPGA
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設(shè)計(jì)方案：超低功耗的鋰電池管理系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)
本文提出的超低功耗鋰電池管理系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案，安全性能得到了提高，同時(shí)也滿足了微功耗儀表的應(yīng)用。這種設(shè)計(jì)是將電荷積分算法核開路電壓結(jié)合從而實(shí)現(xiàn)電量測量，采用了雙向高端微電流檢測電路。DC/DC降壓電路被紐扣電池取代大大降低功耗，實(shí)現(xiàn)了系統(tǒng)的基本保護(hù)、故障記錄、剩余電量檢測的功能。
2014-10-08
電源管理 鋰電池
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創(chuàng)新技術(shù)：在FPGA上實(shí)現(xiàn)3D圖像處理器IP核
目前，嵌入式系統(tǒng)數(shù)字化產(chǎn)品成為繼PC機(jī)后的信息處理工具。隨著嵌入式技術(shù)的發(fā)展，圖形處理也從2D圖形向3D圖形轉(zhuǎn)變。本文采用OpenGL作為系統(tǒng)的圖形API，選取21條基本API命令，定義命令字編碼和渲染列表格式作為IP核的設(shè)計(jì)規(guī)約。
2014-10-08
FPGA IP核
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結(jié)合PC與PLC的監(jiān)控系統(tǒng)的組建
plc一直以其靈活性強(qiáng)、結(jié)構(gòu)緊湊、可靠性高被廣泛應(yīng)用于自動化系統(tǒng)中。因而廣泛應(yīng)用于各種自動化系統(tǒng)。目前plc結(jié)合觸摸屏監(jiān)控設(shè)備，但是觸摸屏視角窄，plc的數(shù)據(jù)存儲有限，大規(guī)模網(wǎng)絡(luò)互聯(lián)難以實(shí)現(xiàn)。本文中采用了可視化軟件visual basic，plc結(jié)合計(jì)算機(jī)組建成監(jiān)控系統(tǒng)。
2014-10-08
PC PLC
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技術(shù)詳解：關(guān)于藍(lán)牙個(gè)人局域網(wǎng)的應(yīng)用測試步驟
本文詳細(xì)解析了藍(lán)牙個(gè)人局域網(wǎng)的應(yīng)用測試相關(guān)步驟，從實(shí)際出發(fā)，把藍(lán)牙PAN的互操作性測試模型作為案例，結(jié)合軟件測試自動化技術(shù)和協(xié)議一致性測試的理論實(shí)踐，詳解藍(lán)牙應(yīng)用的互操作性測試的特點(diǎn)，總結(jié)出藍(lán)牙軟件模型的自動化測試方法。
2014-10-08
個(gè)人局域網(wǎng) 藍(lán)牙測試
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設(shè)計(jì)分享：基于STM32F101數(shù)據(jù)采集器的設(shè)計(jì)方案
隨著科技發(fā)展，數(shù)據(jù)采集技術(shù)在航天、工業(yè)、軍事等眾多領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用和發(fā)展。數(shù)據(jù)采集器的抗干擾能力、精度、安全和通信兼容等方面要求也隨之增加。本文提出了一種基于STM32F101 的數(shù)據(jù)采集器的設(shè)計(jì)，這種數(shù)據(jù)采集器內(nèi)部自帶12 位AD 轉(zhuǎn)換通道，保證數(shù)據(jù)采樣和處理的速度和精度，時(shí)鐘倍頻后處...
2014-10-07
STM32 數(shù)據(jù)采集器
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技術(shù)解析：在FPGA上利用Python 實(shí)現(xiàn)定點(diǎn)平方根
作為可編程的邏輯器件，F(xiàn)PGA便于調(diào)試、修改、功耗低，能夠完成大量算法。在處理圖像和信號時(shí)平方根運(yùn)算被廣泛使用。在FPGA上利用VHDL和Verilog等編程語言進(jìn)行硬件設(shè)計(jì)，存在仿真和校驗(yàn)效率低、算法復(fù)雜等問題。而Python以其簡單、功能強(qiáng)大的特點(diǎn)在此次設(shè)計(jì)中起到關(guān)鍵作用。
2014-10-07
數(shù)字電源 FPGA Python
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那些我們所忽視的電源測試問題
一提到電源測試，我們首先想到的是紋波測試、過載測試、動態(tài)斜率。對于直流電源，用于評價(jià)直流純凈度的最好的測試方法就是紋波測試。對于過壓、過流、過溫，我們會進(jìn)行過載測試。動態(tài)斜率是做電源響應(yīng)速度測試時(shí)的參數(shù)。
2014-10-06
電源測試
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技術(shù)總結(jié)：單片機(jī)硬件設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)之談（二）
針對單片機(jī)硬件設(shè)計(jì)過程中出現(xiàn)的問題以及原則，小編為大家總結(jié)一下經(jīng)驗(yàn)，主要從兩個(gè)方面入手，一方面從關(guān)鍵元件著手，例如RAM,ROM等芯片旁邊安裝去耦電容。一方面從元器件布局方面入手，把相互之間有關(guān)元件放的靠近。
2014-10-06
單片機(jī) 干擾
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