【導讀】電子元器件選型思考的深度和廣度，非常能考驗設計者的功力，同時最后也落實到產(chǎn)品的質(zhì)量水平上。本文整合了電子元器件選型的各方面經(jīng)驗，供大家學習。
一. 綜合考慮
1.易產(chǎn)生應用可靠性問題的器件
①對外界應力敏感的器件
CMOS電路：對靜電、閂鎖、浪涌敏感；
小信號放大器：對過電壓、噪聲、干擾敏感；
塑料封裝器件：對濕氣、熱沖擊、溫度循環(huán)敏感。
②工作應力接近電路最大應力的器件
功率器件：功率接近極限值；
高壓器件：電壓接近極限值；
電源電路：電壓和電流接近極限值；
高頻器件：頻率接近極限值；
超大規(guī)模芯片：功耗接近極限值。
③頻率與功率都大的器件
時鐘輸出電路：在整個電路中頻率最高，且要驅(qū)動幾乎所有數(shù)字電路模塊；
總線控制與驅(qū)動電路：驅(qū)動能力強，頻率高；
無線收發(fā)電路中的發(fā)射機：功率和頻率接近極限值。
2.選用元器件要考慮的十大要素
①電特性：元器件除了滿足裝備功能要求之外，要能經(jīng)受最大施加的電應力；
②工作溫度范圍：元器件的額定工作溫度范圍應等于或?qū)捰谒?jīng)受的工作溫度范圍 ；
③工藝質(zhì)量與可制造性：元器件工藝成熟且穩(wěn)定可控，成品率應高于規(guī)定值，封裝應能與設備組裝工藝條件相容；
④穩(wěn)定性：在溫度、濕度、頻率、老化等變化的情況下，參數(shù)變化在允許的范圍內(nèi)；
⑤壽命：工作壽命或貯存壽命應不短于使用它們的設備的預計壽命；
⑥環(huán)境適應性：應能良好地工作于各種使用環(huán)境，特別是如潮熱、鹽霧、沙塵、酸雨、霉菌、輻射、高海拔等特殊環(huán)境；
⑦失效模式：對元器件的典型失效模式和失效機理應有充分了解；
⑧可維修性：應考慮安裝、拆卸、更換是否方便以及所需要的工具和熟練等級
⑨可用性：供貨商多于1個，供貨周期滿足設備制造計劃進度，能保證元器件失 效時的及時更換要求等；
⑩成本：在能同時滿足所要求的性能、壽命和環(huán)境制約條件下，考慮采用性價比高的元器件。
3.失效模式及其分布
元器件是怎么樣失效的？ 元器件為什么失效？
元器件的使用者即使不能了解失效機理，也應該了解失效模式。
失效模式分布：如果元器件有多種失效模式，則各種失效模式發(fā)生的概率是進行失效分析的前提。
4.高可靠元器件的特征
制造商認證：生產(chǎn)廠商通過了權(quán)威部門的合格認證；
生產(chǎn)線認證：產(chǎn)品只能在認證合格的專用生產(chǎn)線上生產(chǎn)；
可靠性檢驗：產(chǎn)品進行并通過了一系列的性能和可靠性試驗，100%篩選和質(zhì)量一致性檢驗；
工藝控制水平： 產(chǎn)品的生產(chǎn)過程得到了嚴格的控制，成品率高；
標準化程度：產(chǎn)品的生產(chǎn)和檢驗符合國際、國家或行業(yè)通用規(guī)范及詳細規(guī)范要求。
5.品種型號的優(yōu)先選用規(guī)則
優(yōu)先選用標準的、通用的、系列化的元器件，慎重選用新品種和非標準器件，最大限度地壓縮元器件的品種規(guī)格和承制單位的數(shù)量；
優(yōu)先選用列入元器件優(yōu)選目錄，優(yōu)先選用器件制造技術(shù)成熟的產(chǎn)品，選用能長期、連續(xù)、穩(wěn)定、大批量供貨且成品率高的定點供貨單位；
優(yōu)先選用能提供完善的工藝控制數(shù)據(jù)、可靠性應用指南或使用規(guī)范的廠家產(chǎn)品；
在質(zhì)量等級相當?shù)那疤嵯拢瑑?yōu)先選用集成度高的器件，少選用分立器件。
6.供貨商應提供的可靠性信息
詳細規(guī)范及符合的標準：國軍標、國標、行標、企標；
認證情況：QPL、QML、PPL、IECQ等；
質(zhì)量等級與可靠性水平：失效率、壽命（MTTF）、抗靜電強度、抗輻照水平等；
可靠性試驗數(shù)據(jù)：加速與現(xiàn)場，環(huán)境與壽命，近期及以往，所采用的試驗方法與數(shù)據(jù)處理方法；
成品率數(shù)據(jù)：中測（裸片）、總測（封裝后）等；
質(zhì)量一致性數(shù)據(jù)：批次間，晶圓間，芯片間，平均值、方差、分布；
工藝穩(wěn)定性數(shù)據(jù)：統(tǒng)計工藝控制（SPC）數(shù)據(jù)，批量生產(chǎn)情況；
采用的工藝和材料：最好能提供關(guān)鍵工藝和材料的主要參數(shù)指標；
使用手冊與操作規(guī)范：典型應用電路、可靠性防護方法等。
二.工藝考慮
以集成電路為例：
最小線條： 0.35、0.25、0.18、0.13μm；
襯底材料： Si>SOI>SiGe>GaAs>SiC；
互連材料：Cu>Al（國外先進工藝）Al>Cu（國內(nèi)現(xiàn)有工藝）；
鈍化材料：SiN>PSG>聚烯亞胺 無機>有機；
鍵合材料：Au>Cu>Al(Si）；
電路形式：數(shù)/模分離>數(shù)/模合一 RF/BB分離>RF/BB合一。
CMOS芯片成品率與可靠性的關(guān)系
成品率（有時稱為質(zhì)量）：出廠或老化篩選中在批量器件發(fā)現(xiàn)的合格器 件數(shù) 可靠性：經(jīng)歷一年以上的上機時間后的失效器件數(shù)
一般而言，器件的質(zhì)量與成品率越高，可靠性越好，但質(zhì)量與成品率相同的器件，可靠性并非完全相同
SPC數(shù)據(jù)：合格率的表征
統(tǒng)計工藝控制
工藝準確度和工藝穩(wěn)定性是決定產(chǎn)品成品率和可靠性的重要因素，可用統(tǒng)計工藝控制（SPC，Statistical Process Control）數(shù)據(jù)來定量表征。
合格率的表征參數(shù)
成品率(yield）：批產(chǎn)品中合格品所占百分比；
ppm（parts per million）：每一百萬個產(chǎn)品中不合格品的數(shù)量，適合于批量大、質(zhì)量穩(wěn)定、成品率高的產(chǎn)品表征；
工藝偏移和離散的表征：
不合格品的產(chǎn)生主要來自元器件制造工藝不可避免地存在著的偏移和離散，工藝參數(shù)的分布通常滿足正態(tài)分布，其均值為μ、標準偏差為σ。
三.封裝考慮
1.寄生參數(shù)典型值
有引腳元件：寄生電感1nH/mm/引腳（越短越好），寄生電容4pF/引腳；
無引腳元件：寄生電感0.5nH/端口，寄生電容0.3pF/端口；
不同封裝形式寄生效應的比較（寄生參數(shù)由小到大）；
無引腳貼裝>表面貼裝>放射狀引腳>軸面平行引腳；
CSP>BGA>QFP>SMD>DIP。
電容器的寄生電感還與電容器的封裝形式有關(guān)：管腳寬長比越大，寄生電感越小。
2.有利于可靠性
引線極短：降低了分布電感和電容，提高了抗干擾能力和電路速度；
機械強度高：提高了電路抗振動和沖擊的能力；
裝配一致性好：成品率高，參數(shù)離散性小。
3.不利于可靠性
材料不匹配性增加：某些陶瓷基材的SMT元件（如某些電阻器、電容器、 無引線芯片載體LCC）與PCB基板環(huán)氧玻璃的熱膨脹系數(shù)不匹配，引發(fā)熱 應力失效；
較易污染：SMT元件與PCB板之間不易清潔，易駐留焊劑的污染物，需采 用特殊的處理方法；
表面貼裝對可靠性是利遠大于弊，目前已占了90％的比例。
4.封裝材料的比較：
塑料封裝
優(yōu)點：成本低（約為陶瓷封裝的55％），重量輕（約為陶瓷封裝的 1/2），管腳數(shù)多，高頻寄生效應弱，便于自動化生產(chǎn)；
缺點：氣密性差，吸潮，不易散熱，易老化，對靜電敏感；
適用性：大多數(shù)半導體分立器件與集成電路常規(guī)產(chǎn)品。
陶瓷封裝
優(yōu)點：氣密性好，散熱能力強（熱導率高），高頻絕緣性能好，承受功率 大，布線密度高；
缺點：成本高；
適用性：航空、航天、軍事等高端市場。
金屬封裝
優(yōu)點：氣密性好，散熱能力強，具有電磁屏蔽能力，可靠性高；
缺點：成本高，管腳數(shù)有限；
適用性：小規(guī)模高可靠器件。
通常稱塑封為非氣密封裝，陶瓷和金屬為氣密封裝。
吸潮性問題
塑料封裝所采用環(huán)氧樹脂材料本身具有吸潮性，濕氣容易在其表面吸附，水汽會引起塑封材料自身的蠕變，如入侵到芯片內(nèi)部，則會導致腐蝕以及表面沾污氣密性問題。
塑料管殼與金屬引線框架、半導體芯片等材料的熱膨脹系數(shù)的差異要大得多(與陶瓷及金屬管殼相比)→溫度變化時會在材料界面產(chǎn)生相當大的機械應力→界面處產(chǎn)生縫隙→導致氣密性劣化 水汽在縫隙處聚集→溫度上升時迅速汽化而膨脹→界面應力進一步加大→有可能使塑封體爆裂（“爆米花”效應）。
PCB再流焊時溫度可在5～40s內(nèi)上升到205～250 ℃ ，上升梯度達到1～2 ℃/s ，容易產(chǎn)生上述效應。
溫度適應性問題
塑封材料的玻璃化轉(zhuǎn)換溫度為130～160 ℃ ，超過此溫度后塑封材料會軟化，對氣密性也有不利影響
商用塑封器件的溫度范圍一般為0～70 ℃ 、-40~+85 ℃ 、－40～+125℃ ，難以達到軍用溫度范圍-55~+125 ℃。
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