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說說實(shí)驗(yàn)室中偽輻射發(fā)射那些事兒
發(fā)布時(shí)間:2016-11-01 責(zé)任編輯:wenwei
【導(dǎo)讀】要想成功地解決EMI/EMC問題并非易事。它需要時(shí)間、策略,需要保持冷靜的思考,有時(shí)還需要憑借來自經(jīng)驗(yàn)的特殊“第六感”去判斷,因?yàn)樵谀承┣闆r下,您所遇到的問題甚至與被測(cè)設(shè)備無關(guān)。
下面我舉兩個(gè)異常“問題”的實(shí)例來解釋以上陳述。在對(duì)不是由被測(cè)設(shè)備引起的輻射發(fā)射進(jìn)行故障診斷時(shí),我發(fā)現(xiàn)了兩個(gè)異常問題。一個(gè)問題是在我的實(shí)驗(yàn)室中發(fā)現(xiàn)的,另一個(gè)問題則出現(xiàn)在離我大學(xué)很近的一家小公司中。
一天,在實(shí)驗(yàn)室我試圖解決某臺(tái)設(shè)備的輻射發(fā)射問題。通常,我會(huì)從帶屏蔽室的實(shí)驗(yàn)室中獲取某些發(fā)射結(jié)果,但只能作為參考數(shù)據(jù),因?yàn)槲也]有暗室。然后,我試圖找到實(shí)驗(yàn)室中有問題的頻率,確定底噪,然后在被測(cè)設(shè)備工作時(shí)對(duì)其進(jìn)行調(diào)試。
在圖1(左)中,您可以看到設(shè)備被測(cè)量前的底噪情況。位于88~108MHz的FM調(diào)頻廣播發(fā)射機(jī)的發(fā)射可以明確確定。該測(cè)量結(jié)果在屏幕中保存為參考值。
圖1:左圖顯示底噪,右圖顯示輻射發(fā)射(紅色)和底噪(藍(lán)色),但右圖中在135 MHz - 235 MHz范圍內(nèi)底噪較高。原因是什么呢?
然后,我們測(cè)量了被測(cè)設(shè)備的輻射發(fā)射,如圖1右圖所示。我們發(fā)現(xiàn)了數(shù)字時(shí)鐘的輻射發(fā)射,同時(shí)發(fā)現(xiàn)了在135MHz-235MHz頻率范圍內(nèi)還有其它寬帶發(fā)射。我們?cè)噲D在被測(cè)設(shè)備中找到這些輻射發(fā)射,但始終未能成功找到。請(qǐng)注意從最初圖1(左)中顯示的藍(lán)色跡線看,并沒有看到如圖1右 圖中所顯示的較高的底噪。
更復(fù)雜的是,我們發(fā)現(xiàn)該處并不是一直有輻射發(fā)射,如圖2所示。圖2較高的底噪掩蓋了一些來自被測(cè)設(shè)備的輻射發(fā)射。
圖2:較高的底噪掩蓋了一些來自被測(cè)設(shè)備的輻射發(fā)射。
我們?cè)噲D找到被測(cè)設(shè)備印刷電路板(PCB)附近的“間歇性”輻射發(fā)射, 卻始終未果。到底是哪里出錯(cuò)了呢?
后來,我注意到焊臺(tái)(如圖3所示)有時(shí)會(huì)因焊接需要進(jìn)行開啟或關(guān)閉。
圖3:實(shí)驗(yàn)室的儀器包括焊臺(tái)等。
圖4顯示了兩種情況下測(cè)得的底噪。您可以看到兩者之間的差別。
圖4:開啟及關(guān)閉焊臺(tái)時(shí)的底噪(被測(cè)設(shè)備關(guān)閉)
我們發(fā)現(xiàn)原來是這臺(tái)“無辜”的焊臺(tái)惹的禍,弄得我們暈頭轉(zhuǎn)向,曾一度妨礙我們作出問題診斷??磥黼姶鸥蓴_真的是很強(qiáng)大,不可小覷!
第二個(gè)例子與第一個(gè)類似。當(dāng)時(shí)我們正在離實(shí)驗(yàn)室不遠(yuǎn)的一家公司用電力電子轉(zhuǎn)換器測(cè)試一個(gè)系統(tǒng)。
當(dāng)我們?cè)?m處測(cè)量輻射發(fā)射時(shí),我們注意到在低頻區(qū)域發(fā)現(xiàn)了大量輻射發(fā)射,如圖5所示。
圖5顯示被測(cè)設(shè)備的底噪(黃色)和輻射發(fā)射(紫色)。
圖5:顯示被測(cè)設(shè)備的底噪(黃色)和輻射發(fā)射(紫色)。
利用近場(chǎng)探頭我們發(fā)現(xiàn)輻射信號(hào)并非來自被測(cè)設(shè)備。似乎噪聲并非是底噪(屏幕上終止的黃色跡線)。是哪里出錯(cuò)了嗎?
憑著對(duì)焊臺(tái)的了解和自身經(jīng)驗(yàn),我開始環(huán)顧四周,試圖尋找影響信號(hào)的因素。突然,我發(fā)現(xiàn)與一組近場(chǎng)探頭搭配使用的便攜式頻譜分析儀正在充電,如圖6所示。
圖6:便攜式頻譜儀通過充電器連接到AC電源
我把充電器拔下來。輻射發(fā)射立即從儀器屏幕上消失(如圖7所示)。
圖7:拔下射頻儀的充電器后背景發(fā)射降低
經(jīng)驗(yàn)證明,在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行輻射或傳導(dǎo)發(fā)射的故障診斷時(shí)必須小心謹(jǐn)慎、思慮周全。在故障診斷過程中注意查看工具;查看并確保在您所測(cè)的頻段內(nèi)沒有受到充電器、焊臺(tái)、燈具等設(shè)備輻射發(fā)射的影響;不斷檢查底噪;一定要仔細(xì)查看,慎之又慎。
請(qǐng)記住,這類問題也會(huì)出現(xiàn)在屏蔽室中。在調(diào)試發(fā)射問題時(shí),請(qǐng)查看室內(nèi)是否有焊臺(tái)或充電器等設(shè)備正在運(yùn)行。
您是否有類似的經(jīng)歷?歡迎分享您的故事。
文章來源于電子技術(shù)設(shè)計(jì)。
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