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到底哪種電流更危險(xiǎn),AC或DC?

發(fā)布時(shí)間:2019-11-07 責(zé)任編輯:xueqi

【導(dǎo)讀】很多人認(rèn)為就電擊而言,直流電流比交流電更危險(xiǎn)。為了找出哪一種更危險(xiǎn),讓我們回到交流電流和直流電流的基礎(chǔ)知識。
 
      
 
交流電
 
正弦波中的交流電流(如下圖所示)模式。電流來回切換方向。我們可以在家用電器,燈具,風(fēng)扇等中找到交流電流。
 
    
 
直流電流
 
直流電僅沿一個方向流動(如下所示)。它可以在電子電路,電池等中找到。
 
 
讓我告訴你,除電流類型外,電擊的嚴(yán)重程度還取決于其他因素。
 
如:
 
電流量
 
例如,交流電流為15至20毫安的電擊可能非常痛苦。但是,100毫安的電擊可能會導(dǎo)致死亡。
 
 
當(dāng)前的道路
 
從右手到右腿的電流可能很痛苦。但當(dāng)它從右手傳遞到左手通過心臟可能會導(dǎo)致心室顫動。這種情況通常是致命的。
 
      
 
持續(xù)時(shí)間
 
有少量電流的電擊說; 如果持續(xù)較長時(shí)間,0.3毫安也會引起疼痛效果。
 
身體抵抗力
 
與干燥體相比,濕體對電擊提供的阻力較小。
 
 
為什么人體會感到電擊?
 
這很有趣。電流通過皮膚滲入體內(nèi)。皮膚表皮的最外層由稱為角蛋白的蛋白質(zhì)材料組成。
 
角蛋白提供最高的電阻率。在表皮層之后,我們有汗腺,然后是血管。這些汗腺和血管由各種離子構(gòu)成,這些離子是良好的電導(dǎo)體。因此,血管和汗腺對電的通過提供低阻力。
 
現(xiàn)在問題出現(xiàn)了,當(dāng)前如何到達(dá)并穿過身體。
 
回答上述問題,皮膚表皮的最外層充當(dāng)電介質(zhì),內(nèi)部汗腺和組織就像一塊電容器和攜帶電流的金屬片一樣充當(dāng)電容器的另一個板。由于這種電容效應(yīng),電流通過身體??焖僮兓碾妷涸试S更多電流通過身體。
 
哪種電流更危險(xiǎn),AC或DC?
 
有人贊成交流電流和直流電流。這些論點(diǎn)基于對人類(包括男性和女性)和具有處理兩種類型電流經(jīng)驗(yàn)的行業(yè)專業(yè)人員進(jìn)行的實(shí)驗(yàn)和研究。
 
支持DC電流的論據(jù)
 
直流電流經(jīng)歷過電擊的受害者表示,由于直流電流不斷流動,他們無法將手拉回。這種效果類似于提供直流電流的電動門鈴。因此,據(jù)信DC電流沖擊更危險(xiǎn)。
 
然而,在AC電流的情況下,經(jīng)歷電擊的人可以在電流變?yōu)榱銜r(shí)將手拉回。因此,相信AC電流沖擊比DC電流危險(xiǎn)最小。
 
支持AC電流的論據(jù)
 
當(dāng)這個人遭受電擊時(shí),那個人的焦點(diǎn)就是擺脫它并挽救生命。肌肉內(nèi)部發(fā)生的事情無法得知。
 
根據(jù)Charles Dalziel對男性和女性的實(shí)驗(yàn),在直流電擊的情況下,肌肉收縮是連續(xù)的。然而在AC電流的情況下,經(jīng)歷電擊的人經(jīng)歷一系列肌肉收縮。一系列肌肉收縮會對肌肉造成非常嚴(yán)重的傷害。
 
由于皮膚的電容行為與載流導(dǎo)體接觸,如果電壓快速變化,則更多的電流可以通過本體。研究表明,電壓增加兩倍會使電流增加七倍。
 
DC電流“let-go”閾值高于AC“let-go”閾值。需要更多的DC電流來產(chǎn)生與AC電流類似的效果。
 
這些論點(diǎn)不僅基于對男性和女性進(jìn)行的實(shí)驗(yàn),而且還在醫(yī)學(xué)上進(jìn)行了研究。因此,支持AC電流的論點(diǎn)是有道理的。
 
現(xiàn)在,可以總結(jié)出交流電流比直流電流更危險(xiǎn)。那么,人們不應(yīng)該害怕電力,但必須記住,交流電流和直流電流對人體都是危險(xiǎn)的,在使用任何電流時(shí)必須考慮安全措施。
 
作者:Krunal Shah
 
翻譯整理:Talk工控
 
參考資料
 
WB Kouwenhoven和OR Langworthy,“電擊的影響-II”。IEEE Transaction(AIEE)。
 
Charles F. Dalziel,“電擊對人類的影響”。
 
WB Kouwenhoven和DR Hooker,“頻率的電擊效應(yīng)”。
 
John Cadick,“電氣安全手冊”,第3版,Mcgraw Hill。
 
Raymond M. Fish和Leslie A. Geddes,“通向人體的電流傳導(dǎo)”,開放獲取整形外科雜志。
 
Charles F. Dalziel和Eric Odgen,“頻率對Let-Go Currents的影響”,IEEE Transaction。
 
Mark W. Kroll和Dorin Panescu,“電子傷害物理學(xué)”,Springer Science + Business Media New York,2012。
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