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日置展出新款測(cè)量頻率范圍由1 mHz 到 200 kHz的LCR測(cè)試儀

發(fā)布時(shí)間:2012-04-12 來源:電子元件技術(shù)網(wǎng)

專業(yè)測(cè)試測(cè)量?jī)x器制造商日置(上海)商貿(mào)有限公司在近日的中國(guó)(深圳)電子展期間展出了最新推出的測(cè)量頻率范圍由1 mHz 到 200 kHz的LCR測(cè)試儀IM3533和IM3533-01。日置(上海)商貿(mào)有限公司是日置電機(jī)株式會(huì)社(HIOKI)在上海設(shè)立的子公司,該公司產(chǎn)品全部由日本制造。

日置最新發(fā)售的三款LCR測(cè)試儀型號(hào)為IM3523,IM3533和IM3533-01。三款測(cè)試儀的基本精度達(dá)到±0.05%,與以往產(chǎn)品相比能更廣泛地測(cè)量頻率和信號(hào)范圍,IM3533和IM3533-01的測(cè)量頻率范圍由1 mHz 到 200 kHz,以往型號(hào)只能測(cè)量1 mHz到100 kHz,這使得儀器在操作上帶來便捷的同時(shí)也能讓測(cè)量應(yīng)用領(lǐng)域變得更廣。
 表1:日置新款LCR測(cè)試儀與以往產(chǎn)品的關(guān)鍵參數(shù)比較
表1:日置新款LCR測(cè)試儀與以往產(chǎn)品的關(guān)鍵參數(shù)比較

圖1:日置LCR測(cè)試儀IM3523可提供變壓器和線圈的所有測(cè)量 
圖1:日置LCR測(cè)試儀IM3523可提供變壓器和線圈的所有測(cè)量



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