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未來(lái)幾年電池組件翻倍增長(zhǎng) 市場(chǎng)中心向亞太地區(qū)轉(zhuǎn)移
09-10年，太陽(yáng)能電池組件市場(chǎng)以德國(guó)、意大利及西班牙等歐洲國(guó)家為中心，約占全球銷(xiāo)售額的80%。但隨著各國(guó)政策、補(bǔ)貼以及電池組件價(jià)格的變化，電池組件市場(chǎng)中心將會(huì)大逆轉(zhuǎn)，從歐洲轉(zhuǎn)移至亞太地區(qū)。數(shù)據(jù)顯示，到2015年，亞太地區(qū)的太陽(yáng)能電池組件出貨份額將從2011年的22.9％擴(kuò)大至49.3％。相反，2015...
2012-01-09
光伏產(chǎn)業(yè) 太陽(yáng)能 電池組件
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基于脈沖序列控制技術(shù)的降壓型開(kāi)關(guān)電源
近年來(lái)， 隨著電子技術(shù)和信息技術(shù)迅速發(fā)展，開(kāi)關(guān)電源成為了電子工程領(lǐng)域應(yīng)用和研究的熱點(diǎn)。與線性電源相比，開(kāi)關(guān)電源在效率、功率密度、成本等方面顯示出了明顯的優(yōu)勢(shì)，目前已經(jīng)成為主要的DC-DC變換設(shè)備。對(duì)開(kāi)關(guān)電源控制技術(shù)的研究也已成為電力電子技術(shù)領(lǐng)域中最為活躍的部分。
2012-01-09
開(kāi)關(guān)電源 Buck變換器 DCM
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射線檢測(cè)中CMOS的研究
射線檢測(cè)技術(shù)利用X射線探測(cè)材料內(nèi)部的不連續(xù)性，并在記錄介質(zhì)上顯示出圖像。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，射線檢測(cè)從傳統(tǒng)的以膠片為記錄介質(zhì)的照相方法不斷擴(kuò)展，形成了多種數(shù)字化射線檢測(cè)手段，如底片的數(shù)字化處理技術(shù)(Film Digitisation)、射線實(shí)時(shí)成像技術(shù)(Radioscopy)、計(jì)算機(jī)射線成像系統(tǒng)(Computed Rad...
2012-01-09
CMOS CCD成像 成像單元 缺陷定量分析
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CS7123在電視盒中的應(yīng)用
CS7123芯片是深圳市芯?？萍加邢薰咀灾髟O(shè)計(jì)的高速/高精度視頻DAC芯片，其內(nèi)部包括三路10位電流導(dǎo)引(Current Steering)結(jié)構(gòu)的DAC，最大采樣速度達(dá)到240MHz。CS7123結(jié)構(gòu)框圖見(jiàn)圖1，它包括三路高速、10位輸入的視頻DA轉(zhuǎn)換器、標(biāo)準(zhǔn)的TTL輸入和互補(bǔ)輸出高阻抗的模擬輸出電流源。它有三路獨(dú)立的10位輸入...
2012-01-09
CS7123 電視盒 連接器
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LED閃光燈驅(qū)動(dòng)在照相手機(jī)中的應(yīng)用
LED 已經(jīng)成為移動(dòng)電話中電影照明和相機(jī)閃光燈的標(biāo)準(zhǔn)解決方案。對(duì)于更高畫(huà)質(zhì)和更高分辨率的需求，要求更亮的閃光燈 LED 解決方案。所面臨的挑戰(zhàn)是如何通過(guò)實(shí)現(xiàn)最高效率的解決方案來(lái)從電池中擠壓出最佳的光通量。這樣一來(lái)，從電池吸收大電流的運(yùn)行，要求具備許多省電運(yùn)行特性以及一種穩(wěn)健的系統(tǒng)設(shè)計(jì)。...
2012-01-09
LED 閃光燈 照相手機(jī)
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掉電保護(hù)在嵌入式系統(tǒng)中的設(shè)計(jì)應(yīng)用
在嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)過(guò)程中，系統(tǒng)的掉電保護(hù)越來(lái)越受到重視。本文介紹的方法是在用ARM7系列芯片S3C4510B和μClinux構(gòu)建的嵌入式平臺(tái)上實(shí)現(xiàn)的。整個(gè)掉電保護(hù)實(shí)現(xiàn)的基本思路是：產(chǎn)生掉電信號(hào)，捕捉掉電信號(hào)和處理掉電信號(hào)。重點(diǎn)介紹這個(gè)過(guò)程的具體實(shí)現(xiàn)。
2012-01-06
掉電保護(hù) 嵌入式系統(tǒng) ARM7
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由單相有源功率因數(shù)校正（APFC）組合成三相APFC的幾種方法
若能將單相APFC電路簡(jiǎn)單整合成一個(gè)三相APFC電路，將能充分利用成熟的單相控制芯片，制作出滿足要求的三相APFC裝置。下面介紹幾種由單相APFC組合成三相APFC的方法。
2012-01-06
功率因數(shù)校正 PFC 有源功率因數(shù)校正 APFC
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二極管泄漏電流及MOSFET亞閾區(qū)電流的測(cè)量
測(cè)試半導(dǎo)體器件和晶圓片（Wafer）常常要涉及到測(cè)量小電流。其中有些測(cè)試工作包括各種泄漏電流的測(cè)量。另一些對(duì)于晶圓片級(jí)半導(dǎo)體的弱電流測(cè)量則通常與介電材料（氧化物或化合物）的質(zhì)量有關(guān)。這些弱電流測(cè)量工作常常使用靜電計(jì)或源-測(cè)量單元。本文將介紹使用源-測(cè)量單元測(cè)量二極管的泄漏電流以及MOSF...
2012-01-06
二極管 泄漏電流 MOSFET 亞閥區(qū)電流
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T/H解調(diào)和斬波運(yùn)放電路應(yīng)用研究
本文在0.35微米N阱工藝的基礎(chǔ)上，設(shè)計(jì)了單電源供電的全差分?jǐn)夭ㄟ\(yùn)放電路，同時(shí)，為了減小殘余電壓的失調(diào)，采用了T/H(跟蹤-保持)解調(diào)技術(shù)，該電路在斬波頻率150KHz工作時(shí)，輸入等效噪聲達(dá)到31.12nV/Hz。
2012-01-06
差分?jǐn)夭?nbsp; 運(yùn)放 T/H解調(diào)
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