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模擬開關(guān)基礎(chǔ)及選型

發(fā)布時間:2021-05-08 責(zé)任編輯:wenwei

【導(dǎo)讀】模擬開關(guān),是利用JFET或MOS的特性實現(xiàn)控制信號通路的開關(guān),主要用來完成信號鏈路連接或斷開的切換功能。由于它具有功耗低、速度快、無機(jī)械觸點、體積小和使用壽命長等特點,在各種自動控制系統(tǒng)和電子數(shù)碼產(chǎn)品中得到了廣泛應(yīng)用。
 
傳統(tǒng)CMOS工藝模擬開關(guān)的結(jié)構(gòu)如圖1所示。將NMOS與PMOS并聯(lián),可使信號在兩個方向上同等順暢地通過。門極用于控制開關(guān)的導(dǎo)通和截止,NMOS在Vgs為正的時候?qū)?,在Vgs為負(fù)的時侯截止,PMOS則反之。由于PMOS和NMOS的不同特性,導(dǎo)致他們組成的開關(guān)具有如下圖所示的特性。NMOS和PMOS之間承載信號電流的多少由輸入與輸出電壓比決定。由于開關(guān)對電流流向不存在選擇問題,因而也沒有輸入端與輸出端之分。兩個MOSFET由內(nèi)部反相與同相邏輯控制下導(dǎo)通或斷開。CMOS開關(guān)的好處是軌到軌的動態(tài)范圍,雙向操作,在輸入電壓變化時,導(dǎo)通電阻保持不變。
 
模擬開關(guān)基礎(chǔ)及選型
圖1 典型模擬開關(guān)內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖
 
●    靜態(tài)參數(shù)(導(dǎo)通電阻,漏電流,邏輯控制觸發(fā)電平):
 
①導(dǎo)通電阻RON,不同通道導(dǎo)通電阻的差異RON,導(dǎo)通電阻的平坦度RFLAT(ON)
 
導(dǎo)通電阻會導(dǎo)致信號有損失,尤其是當(dāng)開關(guān)串聯(lián)的負(fù)載為低阻抗時損失更大。應(yīng)用中應(yīng)根據(jù)實際情況選擇導(dǎo)通電阻合適的開關(guān)。特別需要注意,導(dǎo)通電阻的阻值與電源供電電壓有直接關(guān)系,通常電源電壓越大,導(dǎo)通電阻就越小。
 
模擬開關(guān)基礎(chǔ)及選型
圖2 CMOS型模擬開關(guān)導(dǎo)通電阻特性曲線
 
NMOS管在信號比較低時的導(dǎo)通電阻較小,而PMOS管則在輸入信號較高時的導(dǎo)通電阻較小,兩個電阻并聯(lián)后,則在整個信號的有效范圍內(nèi)都比較低。
 
②漏電流Leakage Current :
 
一個理想狀態(tài)的開關(guān)要求導(dǎo)通狀態(tài)下的電阻為零,斷開狀態(tài)下導(dǎo)通電阻趨于無限大,漏電流為零;而實際上開關(guān)斷開時為高阻狀態(tài),漏電流不為零,常規(guī)的CMOS漏電流約1nA左右。開關(guān)斷開時,漏電流會流入負(fù)載,從而引起額外的誤差。如果信號源內(nèi)阻很高,傳輸信號為直流量,就特別需要考慮模擬開關(guān)的漏電流,一般希望漏電流越小越好。
 
需要注意,如果通過模擬開關(guān)前端電路的阻抗大則漏電流的影響不容忽略,如果前端電路阻抗較小,則導(dǎo)通電阻的影響就會更大些。
 
模擬開關(guān)基礎(chǔ)及選型
模擬開關(guān)基礎(chǔ)及選型
圖3 開關(guān)導(dǎo)通狀態(tài)下的等效電路
 
模擬開關(guān)基礎(chǔ)及選型
 
③邏輯控制觸發(fā)電平VIH,VIL:
 
VIH:可以被模擬開關(guān)識別成邏輯高電平的最小電平值
VIL:可以被模擬開關(guān)識別成邏輯低電平的最大電壓值。
 
l 動態(tài)參數(shù)(導(dǎo)通斷開時間,傳輸延遲,電荷注入,管腳電容,最大數(shù)據(jù)速率,隔離度等)
 
①Ton/Toff:
 
開關(guān)接收到數(shù)字控制管腳的導(dǎo)通或斷開信號后,輸出真正反映輸入信號導(dǎo)通或斷開所需要的時間。
 
模擬開關(guān)基礎(chǔ)及選型
圖5 Turn on&Turn off 時間
 
②T-break-before-make:
 
這個指標(biāo)大部分針對單刀多擲的模擬開關(guān)而言的,比如對于一個1:2的模擬開關(guān)(SPDT),它的定義是從斷開一個開關(guān)到打開另一個開關(guān)的時間。
 
模擬開關(guān)基礎(chǔ)及選型
圖6 Break-Before-Make時間
 
③T-make-before-break:
 
與上面的參數(shù)類似,從打開開關(guān)到斷開另外一個開關(guān)的時間。
 
④切換時間:T transition time:
 
從一個輸入通道切換到另一個輸入通道后,輸出需要的切換時間。
 
⑤T enable/disable time:
 
輸入通道在使能和禁止時,所需要的的時間。
 
⑥Propagation delay:
 
信號出現(xiàn)在輸入通道后,出現(xiàn)在輸出通道的時間差。
 
⑦電荷注入:
 
用于衡量模擬開關(guān)在進(jìn)行開和斷操作時由于電荷的放電,導(dǎo)致出現(xiàn)在開關(guān)輸出的毛刺電壓。原理是開關(guān)導(dǎo)通時,對電容進(jìn)行充電斷開時,儲存的電荷進(jìn)行放電。對源端的放電不會引入誤差,而對負(fù)載端的放電則會引入誤差。顯而易見,電荷注入會帶來增益誤差和直流失調(diào)誤差。
 
⑧管腳寄生電容Cs(on),Cd(on),Cs(off),Cd(off),C in
 
Cs(on) 導(dǎo)通時輸入電容
Cd(on) 導(dǎo)通時輸出電容;
Cs(off) 斷開時的輸入電容;
Cd(off) 斷開時的輸出電容;
C in 數(shù)字控制引腳上的寄生電容。
 
⑨-3dB帶寬-3dB Bandwidth:
 
開關(guān)導(dǎo)通時,增益衰減3dB的時候,可導(dǎo)通信號的頻率被定義為帶寬。
 
⑩隔離度Off Isolation:
 
當(dāng)開關(guān)斷開時,理想狀態(tài)下,輸出不應(yīng)出現(xiàn)輸入信號,實際上在輸出會有與輸入信號頻率一樣的信號,這是由于輸入輸出間的寄生電容引起的。隔離度參數(shù)越大越好,表示輸出端耦合過去的信號越小。
 
串?dāng)_Crosstalk:
 
對于2:1的復(fù)用器,當(dāng)其中通道1導(dǎo)通時,通道2上會耦合出通道1的信號,Crosstalk用于衡量耦合信號的大小,參數(shù)值越大,表示耦合過去的信號幅值越小。
 
總諧波失真Total Harmonic Distort:
 
一些音頻的信號處理對THD要求嚴(yán)格,THD定義為,信號功率與諧波及噪聲的dB比值。測試時給開關(guān)輸入一個正弦波,開關(guān)的輸出會包含基波以及各次諧波,要注意的是導(dǎo)通電阻的平坦度也會影響THD的指標(biāo)。
 
模擬開關(guān)應(yīng)用場景
 
潤石科技深耕細(xì)分領(lǐng)域,為不同的應(yīng)用場景量身打造了多個系列的模擬開關(guān):
 
①音頻類應(yīng)用:RS2117/RS2118非常適合用于降噪耳機(jī),音箱,KVM、矩陣以及調(diào)音臺等產(chǎn)品中。在音頻系統(tǒng)中,對模擬開關(guān)的要求是可以過交流信號,并且需要消除瞬時放電脈沖通過揚(yáng)聲器時引起的POP音。這些瞬時脈沖通常由電源的通、斷引起。下圖是用RS2118設(shè)計的一種消除POP音的電路:
 
模擬開關(guān)基礎(chǔ)及選型
圖7 RS2118 POP音消除電路
 
②通訊口擴(kuò)展
 
USB接口復(fù)用:帶寬550MHz模擬開關(guān)RS2227/RS2228
SPI接口復(fù)用,I2S信號切換:帶寬300MHz模擬開關(guān)RS2299
UART、I2C接口擴(kuò)展:RS2105/RS2058等
 
③多路信號分時采樣
 
當(dāng)電路中需要采集的信號量比較多的時候,ADC或者IO口不夠用的時候可以使用模擬開關(guān)來做端口的擴(kuò)展。在滿足帶寬和電源要求的情況下,RS2251/RS2252/RS2254多路復(fù)用器可以輕松應(yīng)對這樣的需求。
 
④耗盡型模擬開關(guān)RS550
 
當(dāng)降噪耳機(jī)的電池電量耗盡時,或者需要控制外部輸入的音源直接接入到音源時,可以直接使用耗盡型的模擬開關(guān)RS550,不供電下處于閉合導(dǎo)通狀態(tài)。
 
模擬開關(guān)基礎(chǔ)及選型
圖8 RS550在降噪耳機(jī)上的應(yīng)用示意
 
附:潤石科技模擬開關(guān)選型樹狀圖
 
模擬開關(guān)基礎(chǔ)及選型
圖9 潤石模擬開關(guān)選型樹狀圖
 
 
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