- 手機(jī)電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
- 抗擾度試驗(yàn)問(wèn)題及解決方法
- 前期設(shè)計(jì)時(shí)未考慮電快速瞬變脈沖群抑制功能
- 選用性能可靠的關(guān)鍵器件
- 重點(diǎn)考慮抑制電快速瞬變脈沖群干擾
隨著手機(jī)使用的普及和通信技術(shù)的飛速發(fā)展，辦公室、機(jī)房、公共場(chǎng)所，電子產(chǎn)品無(wú)處不在，這些產(chǎn)品處于此種復(fù)雜化的電磁環(huán)境中，彼此正常工作顯得尤為重要，而手機(jī)在此環(huán)境中能夠正常工作且不會(huì)影響其它設(shè)備，其電磁兼容性尤為重要，因此必須對(duì)手機(jī)進(jìn)行電磁兼容性進(jìn)行測(cè)試，來(lái)保證手機(jī)的電磁兼容性能。
手機(jī)電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
不同制式的手機(jī)電磁兼容測(cè)試時(shí)，選擇不同的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，依據(jù)的基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)相同，見(jiàn)下表1。
表1手機(jī)電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
對(duì)于手機(jī)電磁兼容測(cè)試，下面是對(duì)于易出現(xiàn)問(wèn)題項(xiàng)目的電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)進(jìn)行的描述。
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電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)問(wèn)題及解決方法
1.電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)相關(guān)問(wèn)題的具體情況
電快速瞬變脈沖群產(chǎn)生的原理：當(dāng)電感性負(fù)載（如繼電器、接觸器等）在斷開(kāi)時(shí)，由于開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)間隙的絕緣擊穿或觸點(diǎn)彈跳等原因，在斷開(kāi)處產(chǎn)生的瞬態(tài)騷擾。當(dāng)電感性負(fù)載多次重復(fù)開(kāi)關(guān)，則脈沖群又會(huì)以相應(yīng)的時(shí)間間隙多次重復(fù)出現(xiàn)。這種瞬態(tài)騷擾能量較小，一般不會(huì)引起設(shè)備的損壞，但由于其頻譜分布較寬，所以會(huì)對(duì)移動(dòng)電話(huà)機(jī)的可靠工作產(chǎn)生影響。
該試驗(yàn)是一種將由許多快速瞬變脈沖組成的脈沖群耦合到移動(dòng)電話(huà)機(jī)的電源端口的試驗(yàn)。試驗(yàn)脈沖的特點(diǎn)是：瞬變的短上升時(shí)間、重復(fù)出現(xiàn)和低能量。該試驗(yàn)的目的就是為了檢驗(yàn)手機(jī)在遭受這類(lèi)暫態(tài)騷擾影響時(shí)的性能。一般認(rèn)為電快速瞬變脈沖群之所以會(huì)造成手機(jī)的誤動(dòng)作，是因?yàn)槊}沖群對(duì)線路中半導(dǎo)體結(jié)電容充電，當(dāng)結(jié)電容上的能量累積到一定程度，便會(huì)引起手機(jī)的誤操作。具體表現(xiàn)為在測(cè)試過(guò)程中移動(dòng)電話(huà)機(jī)通信中斷、死機(jī)、軟件告警、控制及存儲(chǔ)功能喪失等。
2.電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)相關(guān)問(wèn)題的分析
電快速瞬變脈沖波形通過(guò)充電器直接傳導(dǎo)進(jìn)手機(jī)，導(dǎo)致主板電路上有過(guò)大的噪聲電壓。當(dāng)單獨(dú)對(duì)火線或零線注入時(shí)，盡管是采取的對(duì)地的共模方式注入，但在火線和零線之間存在差模干擾，這種差模電壓會(huì)出現(xiàn)在充電器的直流輸出端。當(dāng)同時(shí)對(duì)火線和零線注入時(shí)，存在著共模干擾，但對(duì)充電器的輸出影響并不大。造成手機(jī)在測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)問(wèn)題的原因是復(fù)雜的，具體表現(xiàn)為：
1)前期設(shè)計(jì)時(shí)未考慮電快速瞬變脈沖群抑制功能，沒(méi)有添加相關(guān)的濾波元器件，PCB設(shè)計(jì)綜合布線時(shí)也沒(méi)有注意線纜的隔離，主板接地設(shè)計(jì)也不符合規(guī)范，另外關(guān)鍵元器件的也沒(méi)有采取屏蔽保護(hù)措施等；
2)生產(chǎn)廠在元器件供應(yīng)商的選擇上沒(méi)有選用性能可靠的關(guān)鍵器件，導(dǎo)致測(cè)試過(guò)程中器件老化或者器件失效，從而容易受到電快速瞬變脈沖的干擾；
3)在整機(jī)生產(chǎn)組裝過(guò)程中，加工工藝及組裝水平出現(xiàn)的問(wèn)題可能會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品一致性不好，個(gè)別送檢手機(jī)存在質(zhì)量問(wèn)題；
4)檢測(cè)過(guò)程中由于其他測(cè)試項(xiàng)出現(xiàn)問(wèn)題導(dǎo)致整改，可能由于整改方案的選擇會(huì)影響到電快速瞬變脈沖群測(cè)試不合格。
3.電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)相關(guān)問(wèn)題的改進(jìn)建議
針對(duì)電快速脈沖群干擾試驗(yàn)出現(xiàn)的問(wèn)題，主要可以采取濾波及吸收的辦法來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)電快速瞬變脈沖的抑制。
1)在手機(jī)設(shè)計(jì)初期就應(yīng)重點(diǎn)考慮抑制電快速瞬變脈沖群干擾設(shè)計(jì)：
在PCB層電源輸入位置要做好濾波，通常采用的是大小電容組合，根據(jù)實(shí)際情況可以酌情再添加一級(jí)磁珠來(lái)濾除高頻信號(hào)，盡量采用表面封裝；
盡量減小PCB的地線公共阻抗值；
PCB布局盡量使干擾源遠(yuǎn)離敏感電路；
PCB的各類(lèi)走線要盡量短；
減小環(huán)路面積；
在綜合布線時(shí)要注意強(qiáng)弱電的布線隔離、信號(hào)線與功率線的隔離，綜合布線是系統(tǒng)很重要的一個(gè)設(shè)計(jì)組成部分，一個(gè)糟糕的綜合布線格局很可能斷送一個(gè)設(shè)計(jì)精良的PCB的穩(wěn)定性；
關(guān)鍵敏感芯片需要屏蔽；
軟件上應(yīng)正確檢測(cè)和處理告警信息，及時(shí)恢復(fù)產(chǎn)品的狀態(tài)；
2)元器件的選擇上應(yīng)使用質(zhì)量可靠的芯片，最好做過(guò)芯片級(jí)的電磁兼容仿真試驗(yàn)，質(zhì)量可靠的充電器、數(shù)據(jù)線及電池的選用可提升對(duì)電快速瞬變脈沖信號(hào)的抑制能力；
3)廠家在組裝生產(chǎn)環(huán)節(jié)中應(yīng)嚴(yán)把質(zhì)量關(guān)，做好生產(chǎn)工藝流程控制，盡量保證產(chǎn)品質(zhì)量的一致性，減少因個(gè)別手機(jī)質(zhì)量問(wèn)題帶來(lái)的測(cè)試不合格現(xiàn)象；
4)EFT測(cè)試過(guò)程中如出現(xiàn)問(wèn)題，可采用在充電器增加磁環(huán)或者電快速瞬變脈沖群濾波器的方法進(jìn)行整改，選用磁珠的內(nèi)徑越小、外徑越大、長(zhǎng)度越長(zhǎng)越好；采用加TVS管的整改方法作用有限；
5)根據(jù)最新GB/T17626.4-2008標(biāo)準(zhǔn)要求，重復(fù)頻率將增加100kHz選項(xiàng)，將會(huì)比5kHz更為嚴(yán)酷，希望廠家及早重視進(jìn)行相關(guān)的電快速瞬變脈沖群測(cè)試防護(hù)工作。
