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功率器件新突破!氮化鎵實現(xiàn)單片集成雙向開關(guān)

發(fā)布時間:2025-05-11 責任編輯:lina

【導(dǎo)讀】氮化鎵(GaN)單片雙向開關(guān)正重新定義功率器件的電流控制范式。 傳統(tǒng)功率器件(如MOSFET或IGBT)僅支持單向主動導(dǎo)通,反向電流需依賴體二極管或外接抗并聯(lián)二極管實現(xiàn)第三象限傳導(dǎo)。這種被動式反向?qū)ú粌H缺乏門極控制能力,更因二極管壓降導(dǎo)致效率損失。為實現(xiàn)雙向可控傳導(dǎo),工程師常采用背對背(B2B)拓撲級聯(lián)兩個器件,卻因此犧牲了功率密度并增加了系統(tǒng)復(fù)雜度。


氮化鎵(GaN)單片雙向開關(guān)正重新定義功率器件的電流控制范式。 傳統(tǒng)功率器件(如MOSFET或IGBT)僅支持單向主動導(dǎo)通,反向電流需依賴體二極管或外接抗并聯(lián)二極管實現(xiàn)第三象限傳導(dǎo)。這種被動式反向?qū)ú粌H缺乏門極控制能力,更因二極管壓降導(dǎo)致效率損失。為實現(xiàn)雙向可控傳導(dǎo),工程師常采用背對背(B2B)拓撲級聯(lián)兩個器件,卻因此犧牲了功率密度并增加了系統(tǒng)復(fù)雜度。


由于有效的州電阻(RDSON)加倍,因此需要這些設(shè)備的平行組,以使返回到使用單向開關(guān)獲得的值??梢詧?zhí)行此類四季度操作的單片設(shè)備可以通過用單個設(shè)備替換四個活動開關(guān)來低系統(tǒng)大小和復(fù)雜性。 GAN在BDS中的使用可以在某些應(yīng)用程序中創(chuàng)造進一步的優(yōu)勢,因為它的損失較低和比傳統(tǒng)基于SI的設(shè)備更快地切換的能力。

讓我們看一下BDS設(shè)備可以發(fā)揮關(guān)鍵作用的一些關(guān)鍵應(yīng)用程序:

交流開關(guān):在許多應(yīng)用中,雙向AC-AC功率流的概念非常吸引人??紤]一個太陽微型逆變器。標準方法是創(chuàng)建中間DC鏈路電壓,然后將其轉(zhuǎn)換為AC電壓,該電壓可以饋送到網(wǎng)格或用于消費者使用。直流鏈接電容器可能很大,增加了尺寸和成本。 AC-DC-AC過程涉及通過每個功率轉(zhuǎn)換階段的效率降低。另一個示例是板載充電器(OBC),其中使用AC開關(guān)可以單級隔離電源轉(zhuǎn)換。大約在45年前,首次提出了一個矩陣開關(guān)??梢栽诮徊纥c的9個BDS設(shè)備連接兩個三相端口,并轉(zhuǎn)換電壓,頻率和功率因數(shù)。傳統(tǒng)的可變頻率驅(qū)動器(VFD)通常采用包括AC-DC和DC鏈接在內(nèi)的兩個階段轉(zhuǎn)換,然后是DC-AC逆變器。當使用二極管整流器時會產(chǎn)生諧波,并且在制動電動機制動時,無法再生供應(yīng)回電源。直流鏈路電容器是典型的故障點,可能是笨重的。據(jù)估計,VFD在工業(yè)應(yīng)用中消耗了超過60%的電能。因此,使這些驅(qū)動器更加可靠,健壯和有效,同時提高功率密度可以產(chǎn)生重大的積極影響,而BDS為實現(xiàn)這一目標提供了途徑。較小的驅(qū)動器可能會與電動機集成在一起,從而在減少電纜和寄生蟲方面取得了進一步的優(yōu)勢。

在常規(guī)AC-DC轉(zhuǎn)換器中替換B2B開關(guān):讓我們考慮一下維也納整流器的示例。這是一個簡單的集成增壓二極管橋,并帶有添加的BTB設(shè)備,將生成的直流的中點連接回交流側(cè)。這些BTB開關(guān)可將電流饋入輸入電感器,并補償3 rd諧波失真,從而控制輸入電流形狀。這種流行的整流器已用于電信電源,快速的離線電動電動汽車充電等。從本質(zhì)上講,T型轉(zhuǎn)換器是維也納新娘中的二極管替換為MOSFET等主動開關(guān)的二極管。這些三級逆變器允許雙向功率流,可用于許多固態(tài)變壓器(SST)應(yīng)用。邪惡的逆變器在光伏(PV)應(yīng)用中發(fā)現(xiàn)了許多用途。在這里,BDS在AC電源上創(chuàng)建旁路,以網(wǎng)格頻率切換并允許反應(yīng)電流流動。在這些流行的轉(zhuǎn)換器設(shè)計中,用整體式gan bds替換當前的多顧問BD會產(chǎn)生較低設(shè)備計數(shù)的好處,而使用GAN更快的切換可以降低被動組件大小。這些三層拓撲中使用的BDS設(shè)備只需維持總直流電壓的一半即可。

電流源逆變器(CSI):帶定子電流的CSI飼料感應(yīng)電動機。正弦電流進入電動機可顯著提高電機設(shè)計和可靠性。 CSIS中使用的大型電感器可提供固有的過載和短路保護。 CSI的需要開關(guān)可以在兩個方向上阻塞電壓,因此MOSFET或IGBT需要串聯(lián)二極管。當使用WBG設(shè)備時,電壓源逆變器(VSI)不太寬容地使用快速開關(guān),因為開關(guān)波形中的瞬時過電壓增加了EMI風險。這會強調(diào)電動機繞組和軸承。盡管CSI逆變器面臨著獨特的挑戰(zhàn),例如由于控制復(fù)雜性的增加而導(dǎo)致的成本更高,但它們對于高功率電動機驅(qū)動器,電飛機和HVDC傳輸?shù)臓顟B(tài)可能是的。 CSI驅(qū)動器中使用的WBG設(shè)備可以以高頻切換,從而可以減小電感器尺寸。隨著輸出電容器形成低通濾波器,EMI風險降低。 CSI設(shè)計中已證明了GAN BDS設(shè)備2。雖然需要雙向電壓阻塞,但單向電流流量滿足要求,因此有可能簡化所需的門控。這將在下面進一步討論。

AC固態(tài)斷路器(SCCB)和電池斷開:AC SCCB需要雙向,可靠的過電壓特性,較低的狀態(tài)電阻,快速響應(yīng)時間,低熱電阻包裝以及高電流故障清除到?S范圍內(nèi)。在此應(yīng)用程序中,該設(shè)備通常在靜態(tài)條件下運行。用單個GAN BDS的MOSFET或IGBT的機械斷路器或抗系列組合替換在較低的模具和更有效的設(shè)備中具有優(yōu)勢。在使用甘恩(Gan Hemt)方面的一個顯著好處也是沒有重要的Spirito效應(yīng),在某些條件下,可以降低基于SI的設(shè)備的安全操作區(qū)域(SOA)。電池斷開開關(guān),例如在手機和筆記本電腦充電電路中。它們在過電壓條件下提供斷開連接,從而提供重要的保護功能。這些應(yīng)用中的BDS針對非常低的州電阻(<10MΩ),通常使用合并的源,單對接方法,而不是上述其他應(yīng)用中合并的排水,兩柵方法?,F(xiàn)在將更詳細地描述這種合并的排水BDS設(shè)備。

gan hv-bds

在近的Infineon 2025 Wide-Bandgap開發(fā)人員論壇上,Coolgan HV BDS的校長,產(chǎn)品定義和概念工程師Kennith Leong博士詳細描述了Infineon的GAN BDS Switch。 HV BDS開關(guān)的額定值為650 V和850 V,并基于Infineon的柵極注入晶體管(GIT)GAN技術(shù)。合并后的中央排水區(qū)連接了這些HV BDS設(shè)備中的兩個大門和來源。 Infineon還計劃釋放MV BDS開關(guān),該開關(guān)的額定功能為40 V - 120 V,用于靜態(tài)電池斷開連接的應(yīng)用,這些應(yīng)用程序采用了Schottky Gate Gan Hemt Technology,以兩條插入,單門和常見的源設(shè)計。


圖1顯示了HV BDS設(shè)備的四種操作模式。當兩個門都打開時,設(shè)備通過VDS-IDS參數(shù)空間的起源表現(xiàn)出雙向傳導(dǎo)。當只有一個門打開時,就會展示設(shè)備的二極管模式,以便偏離門設(shè)備在其源供水電勢(VSD)何時超過HEMT的有效閾值電壓(VTH - VGS)時有效地控制轉(zhuǎn)機。在GIT設(shè)備中,這發(fā)生在<2V。當兩個門都關(guān)閉時,該設(shè)備在電壓下的阻塞明顯大于額定設(shè)備的電壓。

功率器件新突破!氮化鎵實現(xiàn)單片集成雙向開關(guān)圖1:描繪HV Coolgan BDS設(shè)備的四種操作模式(來源:Infineon Technologies)

雙向設(shè)備中的重要設(shè)計考慮因素是控制底物電位。理想情況下應(yīng)以電位保持,通常是設(shè)備源電壓。由于這兩個來源在此應(yīng)用程序中可能具有不同的潛力,因此將底物與其中一個綁定到一個不對稱的狀態(tài)行為,同時浮動,這可能會導(dǎo)致反向偏置顯著增加RDSON。 Infineon通過使用單片智能技術(shù)來將基板動態(tài)連接到潛力的源來解決此問題。這樣可以確保近乎理想的軟開關(guān)行為。

硬化和軟開關(guān)下的功率損耗的比較如圖2所示。此處的B2B SI和SIC MOSFET與GAN BDS進行了比較,因此凈R DSON是相同的。如所見,在100 kHz開關(guān)頻率下,BDS可以看到損失的顯著改善。共享排水口可顯著改善特定的R DSON,從而允許較低的凈模層區(qū)域,從而降低開關(guān)和動態(tài)傳導(dǎo)損失。在這些BDS設(shè)備中看到的一個重要的改進是自限制的短路行為,該設(shè)備能夠通過重復(fù)的10-100?s測試,對此特征的單向gan hemts的顯著改善。



功率器件新突破!氮化鎵實現(xiàn)單片集成雙向開關(guān) 圖2:與SI和SIC MOSFET背對背配置的HV Coolgan BDS設(shè)備的損耗比較(來源:Infineon Technologies)

計劃在Q2 2025以25MΩ和TOLT和DSO TSC軟件包中的110MΩ等級發(fā)射650 V HV BDS。計劃在未來的路線圖中計劃進行850個V設(shè)備。 Infineon證明的一個概念可以簡化上述CSI應(yīng)用程序中這些設(shè)備的使用是一種混合BDS設(shè)備。在這里,(d-Mode)Hemt上通常將標準電子模式設(shè)備作為BDS結(jié)合使用。該D模式設(shè)備的柵極源路徑中的cascoded LV Schottky二極管控制其行為外部,因此消除了控制此門的要求。


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