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USB3.0認(rèn)證的新測(cè)試要求和應(yīng)對(duì)措施詳解

發(fā)布時(shí)間:2012-09-20 責(zé)任編輯:abbywang

【導(dǎo)讀】隨著主流市場(chǎng)演進(jìn)到SuperSpeed USB,許多設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)正力圖加快設(shè)計(jì)認(rèn)證。但是你了解USB3.0認(rèn)證的最新測(cè)試要求么?只有掌握好游戲規(guī)則,才能贏得游戲。本文將為您提供專家建議參考,幫助您輕松完成這一過程。


盡管市場(chǎng)上已經(jīng)出現(xiàn)了早期的USB 3.0產(chǎn)品,但主流市場(chǎng)轉(zhuǎn)向SuperSpeed USB還有待時(shí)日。部分原因在于,USB 2.0接口無(wú)所不在,且生產(chǎn)成本低廉。高帶寬設(shè)備(如攝像機(jī)和存儲(chǔ)設(shè)備)已經(jīng)率先演進(jìn)到SuperSpeed USB。但就目前而言,基于成本因素考慮,USB3.0實(shí)施仍限于較高端的產(chǎn)品。

大規(guī)模部署任何新的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)(包括USB3.0)都存在內(nèi)在挑戰(zhàn)。此外,USB2.0到USB 3.0并非簡(jiǎn)單的跳躍,其性能提高了十倍之多。盡管性能得到大幅度提升,但消費(fèi)者對(duì)低成本互連設(shè)備的預(yù)期并沒有改變。這就給工程師們帶來了明顯的壓力,需要在一個(gè)原本速度很低的信號(hào)通道上傳輸高速率信號(hào),同時(shí)要在各種條件下保證可靠性、互操作能力和高性能。為保證物理層(PHY)一致性和認(rèn)證,測(cè)試變得空前關(guān)鍵或重要。

USB 3.0擁有許多其它高速串行技術(shù)(如PCI Express和串行ATA)共有的特點(diǎn):8b/10b編碼,明顯的通道衰減,擴(kuò)頻時(shí)鐘。本文將介紹一致性測(cè)試方法及怎樣對(duì)發(fā)射機(jī)、接收機(jī)及線纜和互連進(jìn)行最精確的、可重復(fù)的測(cè)量。在掌握了這些竅門之后,您便可以更有效地準(zhǔn)備SuperSpeed PIL(Platform Integration Lab)之行了。

High Speed Vs. SuperSpeed

USB 3.0滿足了市場(chǎng)對(duì)于更高帶寬下實(shí)時(shí)體驗(yàn)應(yīng)用的需求。目前USB設(shè)備達(dá)數(shù)十億,因而USB 3.0也提供了向下兼容能力,支持傳統(tǒng)USB 2.0設(shè)備。然而,USB 2.0和3.0在物理層有多種差異 (表1)。

 

USB 2.0 和 SuperSpeed USB物理層區(qū)別
表1. USB 2.0 和 SuperSpeed USB物理層區(qū)別

SuperSpeed USB一致性測(cè)試已經(jīng)有明顯變化,以適應(yīng)更高速接口帶來的新挑戰(zhàn)。USB 2.0接收機(jī)驗(yàn)證需要執(zhí)行接收機(jī)靈敏度測(cè)試。USB 2.0設(shè)備必須對(duì)150 mV及以上的測(cè)試包做出響應(yīng),并且忽略100 mV以下的信號(hào)。

SuperSpeed USB接收機(jī)必須面對(duì)更多的信號(hào)損傷,因此測(cè)試要求要比USB 2.0更加苛刻。設(shè)計(jì)人員還必須考慮傳輸線效應(yīng),在發(fā)射機(jī)中使用均衡技術(shù)(包括去加重),在接收機(jī)中使用連續(xù)時(shí)間線性均衡技術(shù)(CTLE)。此外,現(xiàn)在還要求在接收機(jī)上進(jìn)行抖動(dòng)容限測(cè)試,使用擴(kuò)頻時(shí)鐘(SSC)和異步參考時(shí)鐘可能會(huì)導(dǎo)致互操作能力問題。

評(píng)估USB 3.0串行數(shù)據(jù)鏈路另一個(gè)重要部分是被測(cè)波形與互連通道的聯(lián)系非常復(fù)雜。不能再認(rèn)為只要發(fā)射機(jī)輸出滿足了眼圖模板,電路就一定能在傳輸損耗滿足要求的通道中正常工作。想了解發(fā)射機(jī)余量一定時(shí)的最差的傳輸通道,您需要在一致性測(cè)試要求以外建立通道和線纜組合模型,使用通道建模軟件,分析通道效應(yīng) (圖1)。

軟件工具,可以針對(duì)參考測(cè)試通道分析USB 3.0 通道效應(yīng)
圖1. 軟件工具,可以針對(duì)參考測(cè)試通道分析USB 3.0 通道效應(yīng)

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通過使用各種測(cè)試碼型以幫助進(jìn)行發(fā)射機(jī)測(cè)試 (表2)。每種碼型都是根據(jù)與評(píng)估碼型的測(cè)試有關(guān)的特點(diǎn)而選擇的。CP0(一種D0.0加擾序列)用來測(cè)量確定性抖動(dòng)(Dj),如數(shù)據(jù)相關(guān)抖動(dòng)(DDJ)。CP1(一種未加擾D10.2全速率時(shí)鐘碼型)不生成DDJ,因此更適合評(píng)估隨機(jī)性抖動(dòng)(RJ)。

SuperSpeed USB 發(fā)送端一致性測(cè)試碼型
表2. SuperSpeed USB 發(fā)送端一致性測(cè)試碼型

抖動(dòng)和眼高的測(cè)量是通過對(duì)100萬(wàn)個(gè)連續(xù)比特(UI)進(jìn)行分析而得到,需要使用均衡器功能和適當(dāng)?shù)臅r(shí)鐘恢復(fù)設(shè)置(二階鎖相環(huán)、或稱為PLL,10 Mhz環(huán)路帶寬,0.707的阻尼系數(shù))。通過分析被測(cè)數(shù)據(jù)樣本,可以外推出10-12誤碼率(BER)下的抖動(dòng)值。例如,通過外推算法,把測(cè)得的RJ (rms)乘以14.069,可以得到10-12誤碼率下RJ(PK-PK)。

標(biāo)準(zhǔn)化發(fā)射機(jī)一致性測(cè)試設(shè)置,包括參考測(cè)試通道和線纜
圖2. 標(biāo)準(zhǔn)化發(fā)射機(jī)一致性測(cè)試設(shè)置,包括參考測(cè)試通道和線纜

測(cè)試點(diǎn)2 (TP2)距被測(cè)器件(DUT)最近,測(cè)試點(diǎn)1 (TP1)是遠(yuǎn)端測(cè)量點(diǎn)。

在TP1采集信號(hào)后,可以使用SigTest軟件處理數(shù)據(jù),這與PCI Express官方的一致性測(cè)試方法類似。對(duì)需要預(yù)測(cè)試一致性、檢定或調(diào)試的應(yīng)用,希望可以進(jìn)一步了解電路在各種條件或參數(shù)下的特點(diǎn)。裝有USB 3.0分析軟件的高帶寬示波器提供了Normative和Informative方式的物理層發(fā)射端自動(dòng)測(cè)量。省掉了手動(dòng)配置的步驟,大大節(jié)約了測(cè)量時(shí)間。

在測(cè)試完成后,詳細(xì)的Pass/Fail測(cè)試報(bào)告標(biāo)記出哪里可能發(fā)生設(shè)計(jì)問題。如果在不同測(cè)試地點(diǎn)(如公司實(shí)驗(yàn)室、測(cè)試中心)結(jié)果不一致,可以使用之前測(cè)試時(shí)保存的波形數(shù)據(jù)重新分析(離線測(cè)量)。

如果要求更多的分析,可以使用抖動(dòng)分析和眼圖分析軟件,調(diào)試和檢定電路。例如,可以一次顯示多個(gè)眼圖,允許工程師分析不同時(shí)鐘恢復(fù)設(shè)置或軟件通道模型的影響。此外,可以使用不同的濾波器,分析SSC的影響,解決系統(tǒng)互操作能力問題。

均衡考慮因素

由于明顯的通道衰減,SuperSpeed USB要求某種形式的補(bǔ)償,張開接收機(jī)上的眼圖。發(fā)射機(jī)上采用均衡技術(shù),其采用去加重的形式。規(guī)定的標(biāo)稱去加重比是3.5 dB,用線性單位表示為1.5倍。例如,在跳變比特電平為150 mVp-p時(shí),非跳變比特電平為100 mVp-p。

CTLE標(biāo)準(zhǔn)均衡實(shí)現(xiàn)方案包括片內(nèi)技術(shù)、有源接收機(jī)均衡或無(wú)源高頻濾波器,如線纜均衡器上使用的濾波器。這一模型特別適合一致性測(cè)試,因?yàn)樗浅:?jiǎn)便地描述了傳輸函數(shù)。CTLE通過頻域中的一系列極點(diǎn)和零點(diǎn),在特定頻率上達(dá)到峰值(Peak)。

CTLE實(shí)現(xiàn)方案的設(shè)計(jì)要比其它技術(shù)簡(jiǎn)單,能耗要低于其它技術(shù)。然而,在某些情況下,由于適應(yīng)性、精度和噪聲放大方面的限制,僅僅使用CTLE實(shí)現(xiàn)方案可能是不夠的。其它技術(shù)包括前向反饋均衡(FFE)和判定反饋均衡(DFE),通過對(duì)數(shù)據(jù)樣點(diǎn)加權(quán)一些補(bǔ)償系數(shù)來補(bǔ)償通道損耗。

CTLE和FFE是線性均衡器。因此,這兩種技術(shù)都會(huì)提升高頻噪聲,而產(chǎn)生信噪比劣化。但是,DFE在反饋環(huán)路中使用非線性元器件,使噪聲的放大達(dá)到最小,補(bǔ)償碼間干擾(ISI)。圖3示例了一個(gè)經(jīng)過傳輸通道明顯衰減的5Gbps 信號(hào),和使用去加重、CLTE和DFE均衡技術(shù)處理之后的信號(hào)。

一個(gè)經(jīng)過傳輸通道明顯衰減的5Gbps 信號(hào),和使用去加重、CLTE和DFE均衡技術(shù)處理之后的信號(hào)
圖3. 去加重(藍(lán)色)、長(zhǎng)通道(白色)、CTLE (紅色)和三階DFE (灰色)對(duì)5-Gbit/s信號(hào)(黃色)產(chǎn)生的不同效果

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USB 3.0接收機(jī)測(cè)試

USB 3.0接收機(jī)測(cè)試與其它高速串行總線接收機(jī)一致性測(cè)試類似,它一般分成三個(gè)階段,第一個(gè)階段是壓力眼圖校準(zhǔn),然后是抖動(dòng)容限測(cè)試,最后是分析。讓我們看一下這一過程的流程圖(圖4)。

USB 3.0接收機(jī)一致性測(cè)試包括三個(gè)階段:壓力眼圖校準(zhǔn)、抖動(dòng)容限測(cè)試和分析
圖4. USB 3.0接收機(jī)一致性測(cè)試包括三個(gè)階段:壓力眼圖校準(zhǔn)、抖動(dòng)容限測(cè)試和分析

壓力眼圖校準(zhǔn)需要使用最壞情況信號(hào),其通常在水平方向(通過增加抖動(dòng)的方式)和垂直方向(通過把幅度設(shè)置成接收機(jī)能看到的最低幅度)加壓。在任何測(cè)試夾具、線纜或儀器變化時(shí),都必須執(zhí)行壓力眼圖校準(zhǔn)。

抖動(dòng)容限測(cè)試使用校準(zhǔn)后的壓力眼圖作為輸入,在此基礎(chǔ)上注入不同頻率的正弦抖動(dòng)(SJ)。應(yīng)用的這個(gè)SJ考驗(yàn)的是接收機(jī)內(nèi)部的時(shí)鐘恢復(fù)電路,因此不僅測(cè)試了接收機(jī)對(duì)最壞信號(hào)情況的容忍能力,還測(cè)試了時(shí)鐘恢復(fù)的能力。最后,根據(jù)分析結(jié)果就可以知道,是否需要執(zhí)行進(jìn)一步的調(diào)試,以滿足一致性測(cè)試要求。

壓力眼圖校準(zhǔn)首先要使用標(biāo)準(zhǔn)夾具、線纜和通道設(shè)置測(cè)試設(shè)備(圖5)。然后要反復(fù)測(cè)量和調(diào)節(jié)應(yīng)用的各類壓力,如抖動(dòng)。然后使用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試夾具和通道及測(cè)試設(shè)備生成的特定數(shù)據(jù)碼型,在沒有DUT的情況下執(zhí)行校準(zhǔn)。測(cè)試儀器應(yīng)能夠執(zhí)行兩種功能:碼型生成,能夠增加各種壓力;信號(hào)分析,如抖動(dòng)和眼圖測(cè)量。

 主機(jī)(頂部)和設(shè)備(底部)壓力眼圖校準(zhǔn)
圖5. 主機(jī)(頂部)和設(shè)備(底部)壓力眼圖校準(zhǔn)

首先設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)夾具、線纜和通道,然后反復(fù)測(cè)量和調(diào)節(jié)各種應(yīng)用的壓力,如抖動(dòng)。然后在使用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試夾具和通道及使用測(cè)試設(shè)備生成的特定數(shù)據(jù)碼型,在沒有DUT的情況下進(jìn)行校準(zhǔn)。

必須進(jìn)行三種損傷校準(zhǔn),以校準(zhǔn)壓力眼圖,其分別是:RJ、SJ和眼高。每種校準(zhǔn)都要求在碼型發(fā)生器和分析儀上進(jìn)行特定設(shè)置。對(duì)每套線纜、適配器和儀器,必須進(jìn)行一次壓力眼圖校準(zhǔn)。

由于使用不同的適配器和參考通道,主機(jī)和設(shè)備的壓力眼圖校準(zhǔn)也不同。在校準(zhǔn)完成后,可以重復(fù)使用校準(zhǔn)后的眼圖設(shè)置,如果設(shè)備設(shè)置中有的東西發(fā)生變化,那么必須重新校準(zhǔn)。

其它碼型發(fā)生器要求

前面我們已經(jīng)介紹了要求校準(zhǔn)的項(xiàng)目,我們看一下碼型發(fā)生器對(duì)每步校準(zhǔn)的進(jìn)一步要求,包括使用的數(shù)據(jù)碼型、去加重?cái)?shù)量以及應(yīng)該不應(yīng)該啟用SSC。在壓力眼圖校準(zhǔn)方法中,列出的兩種碼型是CP0和CP1。表3列出了所有USB 3.0一致性測(cè)試碼型,以供參考。

USB 3.0 一致性測(cè)試碼型
表3.USB 3.0 一致性測(cè)試碼型

CP0是一種經(jīng)過8b/10b編碼的PRBS-16 數(shù)據(jù)碼型(USB 3.0發(fā)射機(jī)對(duì)D0.0字符加擾和編碼的結(jié)果)。在8b/10b編碼后,最長(zhǎng)的連續(xù)1或連續(xù)0是5位,較標(biāo)準(zhǔn)PRBS-16 碼型中最長(zhǎng)16位的連續(xù)1或0明顯下降。CP3是與8b/10b編碼的PRBS-16類似的一種碼型,類似之處在于,它同時(shí)包含著由相同的比特組成的最短序列(孤位lone bit)和最長(zhǎng)序列。

CP1是RJ校準(zhǔn)使用的一種時(shí)鐘碼型。許多儀器采用雙Diarc方法,把隨機(jī)性抖動(dòng)和確定性抖動(dòng)分開,進(jìn)行RJ測(cè)量。使用時(shí)鐘碼型是為了消除雙Dirac方法中的一個(gè)缺陷,即其一般會(huì)把DDJ報(bào)告為RJ,特別是在長(zhǎng)碼型上。通過使用時(shí)鐘碼型,可以從抖動(dòng)測(cè)量中消除ISI引起的DDJ,提高RJ測(cè)量精度。

碼型發(fā)生器和分析儀之間的有損通道(即USB 3.0 參考通道和線纜)在垂直方向和水平方向?qū)е铝祟l率相關(guān)損耗,這種損耗的表現(xiàn)是眼圖閉合(圖6)。為解決這種損耗,可以使用發(fā)射機(jī)去加重,提升信號(hào)的高頻成分,以便接收的眼圖在10-12(或更低)BER下足夠好。

波形和眼圖可以演示去加重的不同影響,在本例中使用PRBS-7 數(shù)據(jù)碼型
圖6. 波形和眼圖可以演示去加重的不同影響,在本例中使用PRBS-7 數(shù)據(jù)碼型

從眼圖上可以看到,在沒有去加重時(shí),所有比特位的幅度理論上是相同的。有了去加重,跳變位比非跳變位的幅度要高,有效地提高了信號(hào)的高頻成分。

在通過有損耗的通道和線纜后,沒有去加重的信號(hào)的眼圖會(huì)產(chǎn)生ISI,閉合程度會(huì)變嚴(yán)重,而有去加重的信號(hào)的眼圖是完全張開的。我們從這里可以看到,去加重的量影響著ISI和DDJ的值,進(jìn)而影響接收機(jī)上的眼圖張開度。

SSC通常用于同步的數(shù)字系統(tǒng)(包括USB 3.0),以降低電磁干擾(EMI)。如果沒有SSC,數(shù)字信號(hào)的頻譜在其載頻(即5 Gbits/s)及其諧波上將出現(xiàn)高能的尖峰值,可能會(huì)超過法規(guī)限制(圖7)。

SSC可能會(huì)影響頻譜(圖中所示的單個(gè)頻點(diǎn)
圖7. SSC可能會(huì)影響頻譜(圖中所示的單個(gè)頻點(diǎn))

在本例中,使用SSC擴(kuò)展頻譜的能量,規(guī)避超出法規(guī)限制的可能

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為防止這個(gè)問題,SSC用來擴(kuò)散頻譜的能量。載頻被調(diào)制,在本例中被三角波調(diào)制。接收機(jī)測(cè)試中使用的頻率擴(kuò)展的幅度是5000 ppm,頻率調(diào)制以33 kHz或每隔30 μs循環(huán),表現(xiàn)為三角波的一個(gè)周期。在SSC后,頻譜中的能量被擴(kuò)散,沒有一個(gè)頻率違反政策限制。

如前所述,USB 3.0中接收機(jī)一側(cè)的均衡技術(shù)改善了ISI破壞的信號(hào),ISI來自于參考通道和線纜中的頻率相關(guān)損耗。去加重同理,其通過信號(hào)處理方法提升信號(hào)的高頻成分。

盡管設(shè)備或主機(jī)中的接收機(jī)均衡電路與實(shí)現(xiàn)方案有關(guān),但USB 3.0標(biāo)準(zhǔn)為一致性測(cè)試規(guī)定了CTLE (圖8)。參考接收機(jī)必須實(shí)現(xiàn)這個(gè)CTLE,如誤碼率測(cè)試儀(BERT)或示波器,然后才能進(jìn)行一致性測(cè)試測(cè)量(同時(shí)用于發(fā)射機(jī)測(cè)試及本例的接收機(jī)壓力眼圖校準(zhǔn)),其通常采用軟件仿真的形式。

參考接收機(jī)(如誤碼率測(cè)試儀或示波器)必須實(shí)現(xiàn)USB 3.0規(guī)范中規(guī)定的CTLE功能
圖8. 參考接收機(jī)(如誤碼率測(cè)試儀或示波器)必須實(shí)現(xiàn)USB 3.0規(guī)范中規(guī)定的CTLE功能
 

在抖動(dòng)測(cè)量中使用CTLE仿真主要會(huì)改善受信號(hào)處理方法影響的抖動(dòng),即ISI。CTLE仿真不影響與數(shù)據(jù)碼型無(wú)關(guān)的抖動(dòng)成分,如RJ和SJ,盡管根據(jù)一致性測(cè)試規(guī)范(CTS),這兩種測(cè)量都要求使用CTLE。另一方面,眼高會(huì)直接受到影響,因?yàn)镮SI會(huì)影響其測(cè)量。

必須使用符合標(biāo)準(zhǔn)抖動(dòng)傳遞函數(shù)(JTF)的時(shí)鐘恢復(fù)“黃金鎖相環(huán)”進(jìn)行抖動(dòng)測(cè)量,如圖9中藍(lán)色曲線所示。JTF決定著有多少抖動(dòng)從輸入信號(hào)傳遞到分析儀。在本例中,–3-dB截止頻率是4.9 MHz。

藍(lán)色曲線說明了“標(biāo)準(zhǔn)PLL”的抖動(dòng)傳遞函數(shù),其來自USB 3.0標(biāo)準(zhǔn)圖6到圖9
圖9. 藍(lán)色曲線說明了“標(biāo)準(zhǔn)PLL”的抖動(dòng)傳遞函數(shù),其來自USB 3.0標(biāo)準(zhǔn)圖6到圖9

在最低的SJ頻率上(JTF的斜坡部分,或PLL環(huán)路響應(yīng)的平坦部分),恢復(fù)的時(shí)鐘可以跟蹤數(shù)據(jù)信號(hào)上的抖動(dòng)。因此,數(shù)據(jù)中相對(duì)于時(shí)鐘的抖動(dòng)根據(jù)JTF被衰減。在JTF平坦、PLL響應(yīng)向下傾斜的更高SJ頻率上,信號(hào)中存在的SJ被轉(zhuǎn)移到下行分析儀。除壓力眼圖校準(zhǔn)過程中的SJ以外,規(guī)定所有測(cè)量都要使用標(biāo)準(zhǔn)JTF。

一旦校準(zhǔn)了壓力眼圖,可以開始接收機(jī)測(cè)試。USB 3.0要求進(jìn)行BER 測(cè)試,這不同于其上一代技術(shù)USB 2.0。接收機(jī)測(cè)試要求的唯一測(cè)試是采用抖動(dòng)容限方式的BER 測(cè)試。抖動(dòng)容限測(cè)試使用最壞情況下的輸入信號(hào)來執(zhí)行接收機(jī)測(cè)試(上一節(jié)中提到的校準(zhǔn)的壓力眼圖)。在壓力眼圖的基礎(chǔ)上, JTF曲線的-3dB截止頻率附近的一系列SJ頻率(滿足相應(yīng)幅度要求)會(huì)被注入到測(cè)試信號(hào)中,同時(shí)誤碼檢測(cè)器監(jiān)測(cè)接收機(jī)中的錯(cuò)誤或誤碼,計(jì)算BER。

結(jié)論

隨著USB 3.0開始轉(zhuǎn)入主流,成功的發(fā)射機(jī)一致性和認(rèn)證測(cè)試對(duì)新產(chǎn)品上市至關(guān)重要。這些產(chǎn)品不僅能與其它USB 3.0設(shè)備很好地一起工作,還滿足了消費(fèi)者在各種條件下的性能和可靠性預(yù)期。

除大幅度提高性能外,USB 3.0還提出了一系列新的測(cè)試要求,與上一代標(biāo)準(zhǔn)相比,帶來了更多的設(shè)計(jì)和認(rèn)證挑戰(zhàn)。幸運(yùn)的是,市場(chǎng)上提供了一套完整的測(cè)試工具和資源,可以幫助您實(shí)現(xiàn)SuperSpeed USB徽標(biāo)認(rèn)證。
 

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